| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-12页 |
| 1.1.1 天线罩的发展史 | 第10-11页 |
| 1.1.2 天线罩一般分类 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第12-14页 |
| 1.3 技术指标 | 第14页 |
| 1.4 本文的主要工作与章节安排 | 第14-16页 |
| 第二章 天线罩等效介质平板分析 | 第16-25页 |
| 2.1 天线罩电性能表征 | 第16-17页 |
| 2.2 多层介质平板的透射和反射系数理论分析 | 第17-19页 |
| 2.3 多层介质平板透射及反射系数理论计算与CST仿真对比验证 | 第19-21页 |
| 2.4 天线罩截面结构尺寸的分析与设计 | 第21-24页 |
| 2.5 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 阵列天线的.径场分析 | 第25-31页 |
| 3.1 天线.径场分析 | 第25-27页 |
| 3.2 理想源阵列天线.径场 | 第27-29页 |
| 3.3 平板缝隙阵列天线.径场 | 第29-30页 |
| 3.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第四章 射线追踪法 | 第31-45页 |
| 4.1 坐标变换 | 第31-35页 |
| 4.1.1 天线做方位扫描 | 第32-33页 |
| 4.1.2 天线做俯仰扫描 | 第33-34页 |
| 4.1.3 天线做复合扫描 | 第34-35页 |
| 4.2 射线追踪法的分析步骤 | 第35-39页 |
| 4.2.1 入射角与极化角的计算 | 第36-37页 |
| 4.2.2 闪烁瓣的计算 | 第37-38页 |
| 4.2.3 远场方向图的计算 | 第38-39页 |
| 4.3 射线追踪法与CST仿真数据对比 | 第39-43页 |
| 4.4 平均入射角理论 | 第43-44页 |
| 4.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第五章 .径积分-表面积分法 | 第45-67页 |
| 5.1 AISI算法的分析步骤 | 第45-51页 |
| 5.1.1 基于.径积分的近场分析 | 第46-49页 |
| 5.1.2 带罩天线的辐射场 | 第49-51页 |
| 5.2 AISI算法与CST仿真对比 | 第51-55页 |
| 5.2.1 阵列天线做方位扫描 | 第52-54页 |
| 5.2.2 阵列天线做俯仰扫描 | 第54-55页 |
| 5.3 X和Ka双波段AISI算法与CST比较 | 第55-63页 |
| 5.3.1 A夹层介质材料参数 | 第56页 |
| 5.3.2 X波段AISI算法与CST仿真结果对比 | 第56-59页 |
| 5.3.3 Ka波段带罩天线AISI算法与CST对比 | 第59-63页 |
| 5.4 X波段八角形平板缝隙阵AISI算法与CST仿真比较 | 第63-65页 |
| 5.5 AISI算法与RT算法对比 | 第65-66页 |
| 5.6 本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 加工与测试 | 第67-74页 |
| 6.1 天线罩实物 | 第67-68页 |
| 6.2 有无罩阵列天线的辐射特性 | 第68-70页 |
| 6.3 AISI算法与实测结果对比 | 第70-73页 |
| 6.4 本章小结 | 第73-74页 |
| 第七章 总结与展望 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-80页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第80-81页 |
