| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-22页 |
| 1.1 生物芯片 | 第9-15页 |
| 1.1.1 生物芯片的发展 | 第9-10页 |
| 1.1.2 生物芯片的载体 | 第10-11页 |
| 1.1.3 阵列芯片的构建方法 | 第11-13页 |
| 1.1.4 生物芯片的应用 | 第13-15页 |
| 1.1.5 生物芯片的发展前景及存在的问题 | 第15页 |
| 1.2 非特异性吸附现象及其研究现状 | 第15-18页 |
| 1.2.1 蛋白非特异性吸附现象及其研究意义 | 第15-16页 |
| 1.2.2 抗蛋白非特异性吸附材料 | 第16-17页 |
| 1.2.3 抗蛋白非特异性吸附机理 | 第17-18页 |
| 1.3 抗吸附修饰方法 | 第18-20页 |
| 1.3.1 共混法 | 第19页 |
| 1.3.2 吸附法 | 第19页 |
| 1.3.3 共价键结合法 | 第19-20页 |
| 1.4 本课题的主要工作内容 | 第20-22页 |
| 第2章 实验材料与方法 | 第22-34页 |
| 2.1 实验材料 | 第22-25页 |
| 2.1.1 试剂与材料 | 第22-23页 |
| 2.1.2 实验中溶液的配制 | 第23-25页 |
| 2.1.3 实验仪器 | 第25页 |
| 2.2 抗吸附单体的制备 | 第25-28页 |
| 2.2.1 试剂的纯化 | 第26页 |
| 2.2.2 SBMA单体的合成 | 第26-27页 |
| 2.2.3 CBMA单体的合成 | 第27-28页 |
| 2.3 基片表面的抗吸附修饰 | 第28-29页 |
| 2.3.1 基片的准备 | 第28页 |
| 2.3.2 基片表面处理 | 第28页 |
| 2.3.3 抗吸附修饰 | 第28-29页 |
| 2.4 抗吸附阵列芯片的制备 | 第29-30页 |
| 2.4.1 掩膜的制作 | 第29页 |
| 2.4.2 抗吸附阵列芯片的制作 | 第29-30页 |
| 2.5 抗吸附芯片表面功能化及其与抗原的特异性结合 | 第30-31页 |
| 2.6 芯片表面的测试及表征 | 第31-34页 |
| 2.6.1 核磁共振测试 | 第31页 |
| 2.6.2 接触角测试 | 第31页 |
| 2.6.3 芯片表面元素组成测试 | 第31-32页 |
| 2.6.4 芯片表面形貌测试 | 第32页 |
| 2.6.5 阵列表面亲水性测试 | 第32页 |
| 2.6.6 芯片表面抗蛋白吸附性能测试 | 第32-33页 |
| 2.6.7 芯片表面抗细胞粘附测试 | 第33-34页 |
| 第3章 基片表面的抗吸附修饰及其表征 | 第34-51页 |
| 3.1 引言 | 第34-35页 |
| 3.2 抗吸附单体的制备 | 第35-36页 |
| 3.3 抗吸附单体对基片的修饰 | 第36-42页 |
| 3.3.1 基片的前期修饰 | 第36-37页 |
| 3.3.2 溶剂组成对接枝效果的影响 | 第37-39页 |
| 3.3.3 单体浓度对接枝效果的影响 | 第39-40页 |
| 3.3.4 曝光强度对接枝效果的影响 | 第40-41页 |
| 3.3.5 曝光时间对接枝效果的影响 | 第41-42页 |
| 3.4 抗吸附芯片的稳定性 | 第42-43页 |
| 3.5 芯片表面元素组成测试 | 第43页 |
| 3.6 芯片表面形貌测试 | 第43-44页 |
| 3.7 基片表面抗蛋白吸附测试 | 第44-49页 |
| 3.7.1 蛋白吸附量的测定方法 | 第44-46页 |
| 3.7.2 紫外吸光光度法测量基片表面蛋白吸附量 | 第46-47页 |
| 3.7.3 荧光标记法观察基片表面蛋白吸附情况 | 第47-49页 |
| 3.8 本章小结 | 第49-51页 |
| 第4章 抗吸附阵列芯片的制备及其功能化 | 第51-62页 |
| 4.1 引言 | 第51-52页 |
| 4.2 阵列芯片的制备及其表征 | 第52-56页 |
| 4.2.1 接触角的测定 | 第52-53页 |
| 4.2.2 阵列芯片表面的亲水实验 | 第53-54页 |
| 4.2.3 阵列芯片表面形貌测试 | 第54-55页 |
| 4.2.4 阵列芯片抗蛋白吸附效果 | 第55-56页 |
| 4.3 阵列芯片功能化及其与抗原的特异性结合 | 第56-59页 |
| 4.4 阵列芯片诱导细胞的区域选择性粘附 | 第59-61页 |
| 4.5 本章小结 | 第61-62页 |
| 结论 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-71页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73页 |