RFID标签封装设备测量系统的研究与应用
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 课题来源 | 第8页 |
| 1.2 研究背景与意义 | 第8-9页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第9-13页 |
| 1.4 本文研究内容与章节安排 | 第13-14页 |
| 2 RFID 标签封装设备测量系统概述 | 第14-23页 |
| 2.1 测量系统功能简介 | 第14-16页 |
| 2.2 测量系统需求分析 | 第16-19页 |
| 2.3 测量系统方案原理及设计 | 第19-22页 |
| 2.4 本章小结 | 第22-23页 |
| 3 表面信息测量子系统设计 | 第23-39页 |
| 3.1 三维测量概述 | 第23-24页 |
| 3.2 由粗到精的自适应表面测量方法 | 第24-32页 |
| 3.3 测量子系统测量精度测试 | 第32-38页 |
| 3.4 本章小结 | 第38-39页 |
| 4 用于定位的视觉测量子系统算法研究 | 第39-51页 |
| 4.1 相机标定算法研究 | 第39-42页 |
| 4.2 点胶、贴装基板 Mark 标记定位算法 | 第42-45页 |
| 4.3 基于凸点识别的芯片定位算法 | 第45-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 5 RFID 标签封装设备测量系统测试 | 第51-65页 |
| 5.1 实验平台介绍 | 第51-52页 |
| 5.2 表面信息测量子系统测试 | 第52-55页 |
| 5.3 视觉测量子系统测试 | 第55-64页 |
| 5.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 6 总结与展望 | 第65-67页 |
| 6.1 全文总结 | 第65页 |
| 6.2 未来展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-73页 |
| 附录：学位期间发表学术论文及申请软件著作权目录 | 第73页 |
