基于Labview的全息存储性能自动测试系统设计
摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5页 |
第一章 绪论 | 第8-10页 |
1.1 课题背景和意义 | 第8-9页 |
1.2 课题研究的主要工作内容 | 第9-10页 |
第二章 全息存储原理 | 第10-16页 |
2.1 全息记录与再现过程分析 | 第10-12页 |
2.1.1 物光波前的全息记录 | 第11-12页 |
2.1.2 物光波前的再现 | 第12页 |
2.2 全息分类 | 第12-14页 |
2.2.1 平面全息图 | 第13页 |
2.2.2 体全息图 | 第13-14页 |
2.3 全息存储性能指标 | 第14-16页 |
2.3.1 透射率定义 | 第14页 |
2.3.2 衍射率定义 | 第14-16页 |
第三章 虚拟仪器技术及 LABVIEW | 第16-18页 |
3.1 虚拟仪器简介 | 第16-17页 |
3.2 Labview 简介 | 第17-18页 |
第四章 测试系统总体设计 | 第18-34页 |
4.1 系统的主要硬件的选择及实现 | 第18-27页 |
4.1.1 数据采集卡的选择安装与调试 | 第18-22页 |
4.1.2 光电探测器的选择和调试 | 第22-26页 |
4.1.3 放大器的选择 | 第26-27页 |
4.2 系统外部硬件设备总体结构搭建 | 第27-29页 |
4.3 系统的软件功能实现 | 第29-34页 |
第五章 样品测试验证系统 | 第34-40页 |
5.1 样品制备 | 第34页 |
5.2 测试流程 | 第34-35页 |
5.3 测试结果 | 第35-37页 |
5.3.1 透视率的对比 | 第35-36页 |
5.3.2 衍射率的对比 | 第36-37页 |
5.4 主要器件对系统的影响 | 第37-40页 |
第六章 总结与展望 | 第40-42页 |
6.1 工作总结 | 第40页 |
6.2 展望 | 第40-42页 |
参考文献 | 第42-44页 |
致谢 | 第44-45页 |