摘要 | 第6-7页 |
Abstract | 第7页 |
第1章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 引言 | 第10-11页 |
1.2 超声相控阵无损检测技术发展现状 | 第11-13页 |
1.2.1 国内发展现状 | 第11页 |
1.2.2 国外发展现状 | 第11-13页 |
1.3 课题研究内容及意义 | 第13-16页 |
1.3.1 课题研究内容 | 第13-14页 |
1.3.2 课题研究意义 | 第14-16页 |
第2章 抽样相控阵技术原理概述 | 第16-21页 |
2.1 超声相控阵检测原理 | 第16-17页 |
2.2 抽样相控阵技术原理 | 第17-21页 |
2.2.1 抽样相控阵技术简介 | 第17-18页 |
2.2.2 抽样相控阵技术原理 | 第18-21页 |
第3章 抽样相控阵成像算法建模与仿真 | 第21-30页 |
3.1 抽样相控阵技术成像算法建模 | 第21-24页 |
3.1.1 SynFo算法数学模型 | 第22-24页 |
3.2 抽样相控阵缺陷检测数据采集 | 第24-26页 |
3.3 抽样相控阵技术Matlab成像仿真 | 第26-30页 |
3.3.1 SynFo算法的Matlab建模 | 第26-27页 |
3.3.2 仿真结果与验证 | 第27-30页 |
第4章 相控阵检测系统架构设计 | 第30-35页 |
4.1 检测系统架构方案 | 第30-31页 |
4.2 FPGA嵌入式平台架构设计 | 第31-35页 |
第5章 FPGA嵌入式平台设计 | 第35-63页 |
5.1 发射单元设计 | 第35-36页 |
5.1.1 超声波发射控制原理 | 第35页 |
5.1.2 超声发射单元设计 | 第35-36页 |
5.2 VGA接口设计 | 第36-40页 |
5.2.1 VGA显示原理 | 第37-38页 |
5.2.2 VGA显示接口设计 | 第38-40页 |
5.3 DDR3 SDRAM控制器设计 | 第40-54页 |
5.3.1 DDR3 SDRAM技术概论 | 第40-43页 |
5.3.2 DDR3 SDRAM控制器原理与开发流程 | 第43-46页 |
5.3.3 DDR3 SDRAM控制器设计 | 第46-54页 |
5.4 Qsys系统集成设计 | 第54-63页 |
5.4.1 数据流格式的VGA显示接口设计 | 第55-58页 |
5.4.2 抽样相控阵成像系统的Qsys集成 | 第58-63页 |
第6章 成像算法FPGA实现与结果分析 | 第63-67页 |
6.1 成像算法FPGA实现 | 第63-66页 |
6.2 成像结果对比分析 | 第66-67页 |
总结与展望 | 第67-69页 |
总结 | 第67-68页 |
展望 | 第68-69页 |
致谢 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-75页 |
攻读硕士期间发表论文及成果 | 第75页 |