静电感应晶体管噪声模型研究及其在压控振荡器中的应用
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 引言 | 第8-9页 |
| 1.2 静电感应晶体管简介 | 第9-10页 |
| 1.3 静电感应晶体管的结构 | 第10页 |
| 1.4 静电感应晶体管在实际电路中的应用前景 | 第10-11页 |
| 1.5 本论文的主要工作内容 | 第11-12页 |
| 第二章 电子器件噪声模型及SIT噪声特性 | 第12-19页 |
| 2.1 研究背景 | 第12页 |
| 2.2 噪声的统计特性 | 第12-13页 |
| 2.3 电子器件噪声分类 | 第13-14页 |
| 2.4 电子器件噪声模型 | 第14-16页 |
| 2.4.1 热噪声模型 | 第14-15页 |
| 2.4.2 散粒噪声模型 | 第15页 |
| 2.4.3 G-R噪声模型 | 第15页 |
| 2.4.4 闪烁噪声模型 | 第15-16页 |
| 2.5 SIT噪声特性 | 第16-18页 |
| 2.5.1 SIT结构特性对噪声特性的影响 | 第16-17页 |
| 2.5.2 SIT载流子传输对噪声特性的影响 | 第17-18页 |
| 2.6 小结 | 第18-19页 |
| 第三章 静电感应晶体管噪声模型建立 | 第19-38页 |
| 3.1 SIT噪声模型定性分析 | 第19-22页 |
| 3.2 SIT散粒噪声模型建立 | 第22-31页 |
| 3.2.1 沟道区的电势分布 | 第22-24页 |
| 3.2.2 沟道区下方耗尽区的电势分布 | 第24-27页 |
| 3.2.3 沟道势垒高度的解析表达式 | 第27-29页 |
| 3.2.4 SIT散粒噪声表达式 | 第29-31页 |
| 3.3 SIT热噪声模型 | 第31-32页 |
| 3.4 SIT总的噪声模型 | 第32-34页 |
| 3.5 模型验证 | 第34-38页 |
| 第四章 一款基于SIT的压控振荡器设计 | 第38-63页 |
| 4.1 压控振荡器的基本工作原理及性能指标 | 第38-40页 |
| 4.1.1 振荡器的起振 | 第38-39页 |
| 4.1.2 压控振荡器的数学模型 | 第39-40页 |
| 4.1.3 压控振荡器的主要性能指标 | 第40页 |
| 4.2 SIT压控振荡器的结构选择 | 第40-42页 |
| 4.2.1 SIT在环形振荡器应用中的不足 | 第40-41页 |
| 4.2.2 SIT压控振荡器的结构选择 | 第41-42页 |
| 4.3 SIT压控振荡器的基本原理 | 第42-45页 |
| 4.3.1 SIT压控振荡器基本电路结构 | 第42-43页 |
| 4.3.2 起振条件分析 | 第43-45页 |
| 4.4 SIT压控振荡器相位噪声分析 | 第45-52页 |
| 4.4.1 线性时不变假设下相位噪声简要分析 | 第45-48页 |
| 4.4.2 线性时变条件下相位噪声精确分析 | 第48-52页 |
| 4.5 SIT压控振荡器电路综合设计 | 第52-54页 |
| 4.5.1 SIT压控振荡器主要参数的设计 | 第52-53页 |
| 4.5.2 SIT压控振荡器的压控部分设计 | 第53-54页 |
| 4.5.3 SIT压控振荡器的缓冲电路设计 | 第54页 |
| 4.6 SIT压控振荡器整体结构与电路仿真 | 第54-56页 |
| 4.7 SIT振荡器电路测试 | 第56-63页 |
| 4.7.1 SIT电学性能测试 | 第56-59页 |
| 4.7.2 振荡器电路测试 | 第59-63页 |
| 第五章 主要结论与研究展望 | 第63-65页 |
| 5.1 主要结果及结论 | 第63页 |
| 5.2 研究与展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 在学期间研究成果 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
