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射频波电流驱动控制撕裂模研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第1章 引言第11-35页
    1.1 磁流体不稳定性第11-13页
    1.2 撕裂不稳定性第13-23页
        1.2.1 磁岛第13-14页
        1.2.2 经典撕裂模第14-19页
        1.2.3 新经典撕裂模第19-23页
    1.3 新经典撕裂模的控制第23-28页
        1.3.1 电子回旋电流驱动第24-27页
        1.3.2 低混杂波电流驱动第27-28页
    1.4 破裂缓解或避免的控制第28-31页
        1.4.1 破裂现象第28-29页
        1.4.2 出现原因第29-31页
        1.4.3 破裂前控制2/1模——破裂避免第31页
    1.5 研究内容第31-35页
第2章 稳定新经典撕裂模数值模拟研究第35-55页
    2.1 研究背景第35-36页
    2.2 数值计算模型第36-40页
        2.2.1 新经典撕裂模增长模型第36-37页
        2.2.2 射频波驱动电流模型第37-39页
        2.2.3 傅里叶展开和归一化第39-40页
    2.3 数值模拟结果第40-53页
        2.3.1 NTMs的非线性增长和饱和第40-43页
        2.3.2 影响ECCD稳定NTMs的一些参数第43-48页
        2.3.3 完全稳定NTMs所需的最小驱动电流第48-52页
        2.3.4 推广到ITER完全稳定NTMs所需最小ECW功率第52-53页
    2.4 讨论与总结第53-55页
第3章 新经典撕裂模控制的解析研究及与数值结果的比较第55-69页
    3.1 磁岛发展方程第56-59页
    3.2 稳定新经典撕裂模所需的射频电流第59-63页
    3.3 解析结果与数值结果的比较第63-67页
    3.4 讨论与总结第67-69页
第4章 ECCD控制m/n=2/1大磁岛以避免破裂第69-99页
    4.1 平衡电流密度分布的影响第70-72页
    4.2 磁岛的非线性增长和饱和第72-75页
    4.3 撕裂模非线性饱和后加入ECCD稳定磁岛第75-83页
    4.4 ECW径向沉积位置对磁岛稳定的影响第83-88页
        4.4.1 实时追踪有理面径向位置第83-84页
        4.4.2 对齐初始有理面径向位置第84-86页
        4.4.3 实时追踪磁岛0点径向位置第86-88页
    4.5 其他一些参数对ECCD稳定撕裂模的影响第88-92页
        4.5.1 快电子输运系数第88-89页
        4.5.2 安全因子第89页
        4.5.3 等离子体旋转频率第89-90页
        4.5.4 自举电流第90-92页
    4.6 初始磁岛宽度的影响第92-94页
    4.7 共振磁扰动的影响第94-96页
    4.8 数值结果与解析结果的比较第96-97页
    4.9 讨论与总结第97-99页
第5章 全文总结第99-103页
参考文献第103-113页
致谢第113-115页
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果第115页

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