| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 目录 | 第9-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-30页 |
| 1.1 研究背景 | 第12-13页 |
| 1.2 纳米绝缘材料及其发展状况 | 第13-22页 |
| 1.2.1 纳米材料 | 第14-15页 |
| 1.2.2 研究进展 | 第15-21页 |
| 1.2.2.1 发展历史 | 第15-16页 |
| 1.2.2.2 聚乙烯纳米绝缘材料 | 第16-18页 |
| 1.2.2.3 聚丙烯纳米绝缘材料 | 第18-20页 |
| 1.2.2.4 其它绝缘材料 | 第20-21页 |
| 1.2.3 未来发展趋势 | 第21-22页 |
| 1.3 聚合物的电气性能 | 第22-28页 |
| 1.3.1 介质击穿 | 第22-24页 |
| 1.3.2 介电极化 | 第24-25页 |
| 1.3.3 介电损耗 | 第25页 |
| 1.3.4 电导 | 第25-26页 |
| 1.3.5 空间电荷 | 第26-28页 |
| 1.4 本课题研究内容及来源 | 第28-30页 |
| 第二章 氧化镁/交联聚乙烯纳米电缆绝缘材料的制备及其结构与性能的表征 | 第30-53页 |
| 2.1 引言 | 第30-31页 |
| 2.2 实验部分 | 第31页 |
| 2.2.1 原料 | 第31页 |
| 2.2.2 三种材料的制备 | 第31页 |
| 2.3 测试仪器及结构性能的表征 | 第31-35页 |
| 2.3.1 场发射扫描电子显微镜 | 第31-32页 |
| 2.3.2 场发射透射电子显微镜 | 第32页 |
| 2.3.3 差示扫描量热分析 | 第32页 |
| 2.3.4 热失重分析 | 第32页 |
| 2.3.5 X 射线衍射 | 第32页 |
| 2.3.6 高压击穿测试 | 第32-33页 |
| 2.3.7 拉伸测试 | 第33-34页 |
| 2.3.8 介电谱测试 | 第34页 |
| 2.3.9 空间电荷测试 | 第34-35页 |
| 2.3.10 直流逐级耐压实验 | 第35页 |
| 2.4 结果分析 | 第35-51页 |
| 2.4.1 形态和分布 | 第35-37页 |
| 2.4.2 热分析 | 第37-40页 |
| 2.4.3 X 射线衍射分析 | 第40-41页 |
| 2.4.4 高压击穿测试 | 第41-43页 |
| 2.4.5 介电常数和介电损耗 | 第43-44页 |
| 2.4.6 力学性能 | 第44-45页 |
| 2.4.7 空间电荷 | 第45-49页 |
| 2.4.8 直流耐压试验 | 第49-51页 |
| 2.5 结论 | 第51-53页 |
| 第三章 氧化镁/聚丙烯纳米电缆绝缘材料的制备及其结构与性能的表征 | 第53-71页 |
| 3.1 引言 | 第53页 |
| 3.2 实验部分 | 第53-54页 |
| 3.2.1 原料及来源 | 第53-54页 |
| 3.2.2 材料的制备 | 第54页 |
| 3.3 测试仪器及结构性能的表征 | 第54-56页 |
| 3.3.1 场发射扫描电子显微镜 | 第54页 |
| 3.3.2 场发射透射电子显微镜 | 第54-55页 |
| 3.3.3 差示扫描量热分析 | 第55页 |
| 3.3.4 热失重分析 | 第55页 |
| 3.3.5 X 射线衍射 | 第55页 |
| 3.3.6 高压击穿测试 | 第55页 |
| 3.3.7 拉伸测试 | 第55-56页 |
| 3.3.8 空间电荷测试 | 第56页 |
| 3.3.9 体积电阻测试 | 第56页 |
| 3.4 结果分析 | 第56-69页 |
| 3.4.1 形态和分布 | 第56-58页 |
| 2.4.2 X 射线衍射分析 | 第58-59页 |
| 2.4.3 热分析 | 第59-62页 |
| 2.4.4 高压击穿测试 | 第62-63页 |
| 2.4.5 力学性能 | 第63-64页 |
| 2.4.6 空间电荷 | 第64-69页 |
| 3.4.7 体积电阻率 | 第69页 |
| 3.5 结论 | 第69-71页 |
| 第四章 结论与展望 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及研究成果 | 第81页 |