新型SONOS单元NOR闪存设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 FLASH 存储器发展状况 | 第8-9页 |
| 1.2 FLASH 存储器的技术分类 | 第9-11页 |
| 1.3 FLASH 存储器产品和技术的发展趋势 | 第11页 |
| 1.4 FLASH 存储器单元编程和擦除机制 | 第11-13页 |
| 1.5 课题的主要工作及技术要点 | 第13-14页 |
| 1.6 论文章节构成 | 第14-15页 |
| 第二章 新型SONOS 单元工作条件设定 | 第15-20页 |
| 2.1 新型SONOS 结构闪存单元和阵列简介 | 第15-16页 |
| 2.2 器件的工作机制 | 第16-17页 |
| 2.3 对于编程和读写可靠性的几种影响 | 第17页 |
| 2.4 工作条件的确定 | 第17-19页 |
| 2.5 新单元对于设计的几点挑战 | 第19-20页 |
| 第三章 FLASH 存储器电路设计 | 第20-28页 |
| 3.1 电路设计概述 | 第20页 |
| 3.2 电路模块设计 | 第20-25页 |
| 3.3 工作模式设计 | 第25-28页 |
| 第四章 版图设计 | 第28-31页 |
| 4.1 阵列与解码 | 第28-29页 |
| 4.2 灵敏放大器 | 第29页 |
| 4.3 带隙基准源 | 第29-30页 |
| 4.4 电荷泵 | 第30页 |
| 4.5 版图的验证与检查 | 第30-31页 |
| 第五章 测试及改进的展望 | 第31-39页 |
| 5.1 仿真结果 | 第31-35页 |
| 5.2 存储器测试简介 | 第35-36页 |
| 5.3 功能测试简介 | 第36-37页 |
| 5.4 性能测试简介 | 第37页 |
| 5.5 测试流程简介 | 第37-38页 |
| 5.6 问题的查找和改进 | 第38-39页 |
| 结束语 | 第39-40页 |
| （1） 总结 | 第39页 |
| （2） 展望 | 第39-40页 |
| 研究生期间发表的论文 | 第40-41页 |
| 参考文献 | 第41-42页 |
| 致谢 | 第42页 |
