| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-28页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 太阳电池工作原理及性能表征 | 第10-15页 |
| 1.2.1 太阳电池工作原理 | 第10-11页 |
| 1.2.2 太阳电池性能表征 | 第11-13页 |
| 1.2.3 非平衡载流子复合机制 | 第13-15页 |
| 1.3 砷化镓基系太阳电池简介 | 第15-21页 |
| 1.3.1 Ⅲ-Ⅴ族化合物太阳电池制备方法 | 第15-16页 |
| 1.3.2 砷化镓基系太阳电池基本结构 | 第16-17页 |
| 1.3.3 叠层太阳电池的思想 | 第17-19页 |
| 1.3.4 太阳电池光学设计的优化 | 第19-21页 |
| 1.4 太阳电池辐照效应研究现状 | 第21-26页 |
| 1.4.1 空间辐照环境简介 | 第21-22页 |
| 1.4.2 太阳电池辐照损伤的研究进展 | 第22-26页 |
| 1.5 本文的研究内容 | 第26-28页 |
| 第2章 试验材料和试验方法 | 第28-34页 |
| 2.1 试验材料 | 第28-29页 |
| 2.2 试验方案 | 第29-34页 |
| 2.2.1 辐照试验 | 第30-31页 |
| 2.2.2 太阳电池伏安特征曲线测试 | 第31页 |
| 2.2.3 太阳电池量子效率测试 | 第31-32页 |
| 2.2.4 太阳电池X射线衍射测试 | 第32页 |
| 2.2.5 太阳电池暗特性测试 | 第32-33页 |
| 2.2.6 太阳电池表面反射率测试 | 第33-34页 |
| 第3章 基区厚度对In_(0.3)Ga_(0.7)As电池辐照损伤的影响 | 第34-59页 |
| 3.1 低能电子对In_(0.3)Ga_(0.7)As电池产生的辐照损伤 | 第34-41页 |
| 3.1.1 伏安特征曲线的测试和分析 | 第34-36页 |
| 3.1.2 量子效率的测试和分析 | 第36-37页 |
| 3.1.3 暗特性的测试和分析 | 第37-39页 |
| 3.1.4 表面反射率的测试和分析 | 第39页 |
| 3.1.5 低能电子对In_(0.3)Ga_(0.7)As电池辐照损伤的机理探讨 | 第39-41页 |
| 3.2 高能电子对In_(0.3)Ga_(0.7)As电池产生的辐照损伤 | 第41-56页 |
| 3.2.1 伏安特征曲线的测试和分析 | 第41-45页 |
| 3.2.2 量子效率的测试和分析 | 第45-48页 |
| 3.2.3 暗特性的测试和分析 | 第48-50页 |
| 3.2.4 基区厚度对In_(0.3)Ga_(0.7)As太阳电池微观结构的影响 | 第50-51页 |
| 3.2.5 表面反射率的测试和分析 | 第51-53页 |
| 3.2.6 高能电子对In_(0.3)Ga_(0.7)As太阳电池辐照损伤的机理探讨 | 第53-56页 |
| 3.3 提高多结太阳电池转换效率的途径探讨 | 第56-57页 |
| 3.4 本章小结 | 第57-59页 |
| 第4章 背反射结构对In_(0.3)Ga_(0.7)As电池辐照损伤的影响 | 第59-73页 |
| 4.1 低能电子辐照对In_(0.3)Ga_(0.7)As太阳电池产生的损伤 | 第60-61页 |
| 4.1.1 伏安特征曲线的测试和分析 | 第60页 |
| 4.1.2 量子效率的测试和分析 | 第60-61页 |
| 4.2 高能电子辐照对In_(0.3)Ga_(0.7)As电池产生的损伤 | 第61-70页 |
| 4.2.1 伏安特征曲线的分析 | 第61-65页 |
| 4.2.2 量子效率的测试和分析 | 第65-67页 |
| 4.2.3 暗特性的测试和分析 | 第67-70页 |
| 4.3 背反射结构对In_(0.3)Ga_(0.7)As太阳电池微观结构的影响 | 第70-71页 |
| 4.4 本章小结 | 第71-73页 |
| 结论 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-80页 |
| 致谢 | 第80页 |
