摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
1 绪论 | 第9-16页 |
1.1 课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
1.2 相关技术的发展和研究动态 | 第10-15页 |
1.2.1 靶场测速技术的发展 | 第10-11页 |
1.2.2 曳光弹测速现状与存在的问题 | 第11-14页 |
1.2.3 改善动态范围的研究现状 | 第14-15页 |
1.3 本文工作及内容安排 | 第15-16页 |
2 总体方案设计 | 第16-25页 |
2.1 探测光幕及弹尾曳光信号分析 | 第16-23页 |
2.1.1 探测光幕视场分析 | 第16-17页 |
2.1.2 曳光弹构造及发光原理 | 第17页 |
2.1.3 曳光弹过幕信号特征 | 第17-20页 |
2.1.4 曳光弹测速失效分析 | 第20-23页 |
2.2 曳光弹速度测试总体方案 | 第23页 |
2.3 本章小结 | 第23-25页 |
3 对数放大电路设计 | 第25-38页 |
3.1 光电转换部分设计 | 第25-28页 |
3.1.1 光电探测器件的选型 | 第25-26页 |
3.1.2 光电二极管搭接方式选择 | 第26-27页 |
3.1.3 光电二极管接收阵列 | 第27-28页 |
3.2 前级耦合放大电路 | 第28-29页 |
3.3 对数放大电路设计 | 第29-33页 |
3.3.1 电压型对数放大电路 | 第29-32页 |
3.3.2 电流型对数放大电路 | 第32-33页 |
3.4 后级放大跟随 | 第33-34页 |
3.4.1 仪表放大器 | 第33页 |
3.4.2 跟随驱动 | 第33-34页 |
3.5 信号处理电路电源设计 | 第34-35页 |
3.6 自动调零电路 | 第35-37页 |
3.6.1 自动调零电路设计 | 第35-36页 |
3.6.2 自动调零程序设计 | 第36-37页 |
3.7 本章小结 | 第37-38页 |
4 增益控制电路设计 | 第38-43页 |
4.1 增益控制电路设计 | 第38-41页 |
4.2 程序功能实现 | 第41-42页 |
4.2.1 增益自适应 | 第41-42页 |
4.2.2 增益控制 | 第42页 |
4.3 本章小结 | 第42-43页 |
5 电路测试与测速误差分析 | 第43-58页 |
5.1 对数特性测试 | 第43-48页 |
5.1.1 电压型对数处理电路对数特性测试 | 第43-47页 |
5.1.2 电流型对数处理电路对数特性测试 | 第47-48页 |
5.2 电路动态范围测试 | 第48-51页 |
5.2.1 电压型对数放大电路动态范围测量 | 第48-49页 |
5.2.2 电流型对数放大电路动态范围测量 | 第49-51页 |
5.3 电压型对数放大电路与电流型对数放大电路的比较 | 第51页 |
5.4 曳光信号模拟装置设计 | 第51-53页 |
5.5 曳光测速测量误差分析 | 第53-56页 |
5.5.1 时间相关算法分析 | 第53-54页 |
5.5.2 MATLAB信号仿真计算 | 第54-56页 |
5.6 实弹射击试验 | 第56-57页 |
5.6.1 室内气枪弹测试 | 第56页 |
5.6.2 7.62mm实弹测试 | 第56-57页 |
5.7 本章小结 | 第57-58页 |
6 信号处理电路的可靠性分析 | 第58-64页 |
6.1 信号处理电路的可靠性设计方法 | 第58-59页 |
6.1.1 确定可靠性指标 | 第58页 |
6.1.2 建立可靠性模型 | 第58页 |
6.1.3 元件计数法检验可靠性指标 | 第58-59页 |
6.2 测光靶信号处理电路可靠性分析 | 第59-61页 |
6.2.1 电路工作原理 | 第59-60页 |
6.2.2 可靠性模型的建立 | 第60页 |
6.2.3 元件计数法可靠性预计 | 第60-61页 |
6.3 电子元器件失效机理分析 | 第61-63页 |
6.3.1 电阻器的失效机理 | 第61-62页 |
6.3.2 电容器的失效机理 | 第62-63页 |
6.3.3 集成块的失效模式与失效机理 | 第63页 |
6.4 小结 | 第63-64页 |
7 结论 | 第64-67页 |
7.1 总结 | 第64页 |
7.2 下一步工作和展望 | 第64-67页 |
参考文献 | 第67-70页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第70-71页 |
致谢 | 第71-73页 |