基于巴克豪森噪声的RPV辐照脆化检测关键技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 注释表 | 第12-13页 |
| 缩略词 | 第13-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-21页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第14-16页 |
| 1.1.1 课题研究背景 | 第14-15页 |
| 1.1.2 课题研究意义 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16-18页 |
| 1.3 MBN与其他辐照脆化检测方法的比较 | 第18-19页 |
| 1.4 论文的主要研究内容 | 第19-21页 |
| 第二章 基本理论 | 第21-28页 |
| 2.1 电磁学基础知识 | 第21-24页 |
| 2.1.1 磁畴与磁畴壁 | 第21-22页 |
| 2.1.2 磁化曲线 | 第22-23页 |
| 2.1.3 磁滞回线 | 第23-24页 |
| 2.2 巴克豪森噪声 | 第24-26页 |
| 2.2.1 巴克豪森噪声产生机理 | 第24页 |
| 2.2.2 巴克豪森噪声检测典型框图 | 第24-25页 |
| 2.2.3 影响巴克豪森噪声的因素 | 第25-26页 |
| 2.3 RPV的辐照脆化机理及影响因素 | 第26-27页 |
| 2.3.1 RPV的辐照脆化机理 | 第26-27页 |
| 2.3.2 影响RPV辐照脆化的因素 | 第27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 RPV辐照脆化检测硬件系统 | 第28-36页 |
| 3.1 硬件系统总体框架 | 第28-29页 |
| 3.2 激励电源 | 第29-30页 |
| 3.3 传感器 | 第30-31页 |
| 3.3.1 激励线圈 | 第30页 |
| 3.3.2 磁化器 | 第30-31页 |
| 3.3.3 接收器 | 第31页 |
| 3.4 信号调理电路 | 第31-34页 |
| 3.4.1 前置放大电路 | 第32页 |
| 3.4.2 高通滤波电路 | 第32-33页 |
| 3.4.3 主放大电路 | 第33-34页 |
| 3.5 采集卡 | 第34-35页 |
| 3.6 本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 RPV辐照脆化检测软件系统 | 第36-47页 |
| 4.1 上位机软件开发平台 | 第36页 |
| 4.2 数据库管理系统 | 第36-37页 |
| 4.3 软件系统分模块介绍 | 第37-45页 |
| 4.3.1 信号采集 | 第37-39页 |
| 4.3.2 MBN信号调理 | 第39-40页 |
| 4.3.3 MBN数据处理 | 第40-43页 |
| 4.3.4 MBN数据存储 | 第43-45页 |
| 4.4 软件系统 | 第45-46页 |
| 4.5 本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 RPV辐照脆化检测系统实验验证与数据分析 | 第47-62页 |
| 5.1 检测系统整体介绍 | 第47页 |
| 5.2 实验激励信号讨论 | 第47-50页 |
| 5.3 试样制备 | 第50-52页 |
| 5.3.1 热时效处理 | 第51页 |
| 5.3.2 带电粒子辐照 | 第51-52页 |
| 5.4 数据处理分析 | 第52-62页 |
| 5.4.1 验证性实验 | 第53-55页 |
| 5.4.2 质子辐照 | 第55-58页 |
| 5.4.3 热时效处理 | 第58-61页 |
| 5.4.4 数据处理小结 | 第61-62页 |
| 第六章 总结与展望 | 第62-64页 |
| 6.1 工作总结 | 第62-63页 |
| 6.2 工作展望 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第68页 |
