| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 选题背景及研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状及趋势 | 第12-15页 |
| 1.2.1 测试技术国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.2 可靠性分析国内外研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 文章的主要内容与安排 | 第15-17页 |
| 2 弹载存储测试系统总体设计 | 第17-36页 |
| 2.1 系统性能要求 | 第17-20页 |
| 2.1.1 性能指标 | 第17页 |
| 2.1.2 待测信号分析 | 第17-20页 |
| 2.2 总体设计方案 | 第20-23页 |
| 2.2.1 系统设计原则 | 第20-21页 |
| 2.2.2 系统工作原理 | 第21-22页 |
| 2.2.3 系统工作流程 | 第22-23页 |
| 2.3 系统硬件设计 | 第23-27页 |
| 2.3.1 信号调理模块设计 | 第23-25页 |
| 2.3.2 数据存储模块设计 | 第25-26页 |
| 2.3.3 逻辑控制模块设计 | 第26-27页 |
| 2.4 系统软件设计 | 第27-35页 |
| 2.4.1 无效块检测与负延时预留设计 | 第27-29页 |
| 2.4.2 通道选择与通道错位纠正设计 | 第29-31页 |
| 2.4.3 上位机软件设计 | 第31-35页 |
| 2.5 本章小结 | 第35-36页 |
| 3 弹载存储测试系统的关键技术研究 | 第36-51页 |
| 3.1 电池抗冲击研究 | 第36-38页 |
| 3.1.1 电池失效 | 第36-37页 |
| 3.1.2 电池抗冲击试验及保护设计 | 第37-38页 |
| 3.2 壳体与缓冲设计 | 第38-41页 |
| 3.2.1 弹体侵彻仿真实验 | 第38-40页 |
| 3.2.2 测试系统保护设计与分析 | 第40-41页 |
| 3.3 复杂系统的可靠性预计 | 第41-50页 |
| 3.3.1 复杂性对系统可靠性的影响 | 第42页 |
| 3.3.2 典型系统可靠性模型 | 第42-44页 |
| 3.3.3 测试系统的可靠性预计 | 第44-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 4 弹载存储测试系统基于性能退化的可靠性研究 | 第51-62页 |
| 4.1 弹载存储测试系统的失效特性研究 | 第51-53页 |
| 4.1.1 退化性失效与突发性失效 | 第51页 |
| 4.1.2 弹载存储测试系统的失效机理分析 | 第51-53页 |
| 4.2 高过载冲击下试验信息的相容性检验 | 第53-55页 |
| 4.3 弹载存储测试系统基于性能退化的可靠性模型的建立与分析 | 第55-61页 |
| 4.3.1 失效模型建立 | 第55-59页 |
| 4.3.2 过程分析 | 第59-61页 |
| 4.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 5 弹载存储测试系统性能测试与验证 | 第62-67页 |
| 5.1 冲击加速度模拟实验 | 第62-64页 |
| 5.2 弹上控制信号测试 | 第64-66页 |
| 5.3 本章小结 | 第66-67页 |
| 6 总结与展望 | 第67-69页 |
| 6.1 全文总结 | 第67-68页 |
| 6.2 本文的创新点 | 第68页 |
| 6.3 本文的不足和下一步工作 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及参研的课题研究 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |