基于配准的新型表面贴装元器件的定位算法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·本课题的研究背景及意义 | 第9-10页 |
| ·贴片机的视觉系统 | 第10-14页 |
| ·视觉系统的工作原理及工作流程 | 第10-11页 |
| ·视觉系统的组成 | 第11-14页 |
| ·光源与照明 | 第12页 |
| ·图像采集 | 第12-13页 |
| ·图像的处理算法 | 第13-14页 |
| ·本文的研究内容和章节安排 | 第14-15页 |
| 第二章 新型表面贴装元器件的图像配准基础 | 第15-23页 |
| ·新型表面贴装元器件的视觉检测 | 第15-17页 |
| ·新型表面元器件的检测难点 | 第15-16页 |
| ·新型表面贴装元器件的研究近况 | 第16-17页 |
| ·图像配准概述 | 第17-22页 |
| ·图像配准的基本框架 | 第18-20页 |
| ·特征空间 | 第18页 |
| ·搜索空间 | 第18-19页 |
| ·相似性度量 | 第19页 |
| ·搜索策略 | 第19-20页 |
| ·配准方法分类 | 第20-21页 |
| ·配准的国内外研究近况 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 配准在B样条小波边缘检测的应用 | 第23-37页 |
| ·小波分析 | 第23-26页 |
| ·小波分析的基本理论 | 第23-25页 |
| ·多孔（à Trous）算法 | 第25-26页 |
| ·B样条小波 | 第26-33页 |
| ·B样条小波的理论基础 | 第26-28页 |
| ·B样条小波多尺度边缘检测原理 | 第28-31页 |
| ·相似性度量应用在样条次数的选取 | 第31-33页 |
| ·多尺度积边缘检测 | 第33-36页 |
| ·多尺度积检测原理 | 第33-34页 |
| ·chip芯片的定位实验结果分析 | 第34-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 基于最小能量的SIFT算法研究 | 第37-52页 |
| ·SIFT算子 | 第37-48页 |
| ·SIFT算法思想 | 第38-44页 |
| ·构建尺度空间 | 第38-40页 |
| ·尺度空间极值点检测 | 第40-42页 |
| ·赋予关键点的主方向 | 第42页 |
| ·SIFT特征向量的生成 | 第42-43页 |
| ·SIFT配准算法 | 第43-44页 |
| ·实验结果分析 | 第44-48页 |
| ·最小能量亚像素配准 | 第48-51页 |
| ·算法思想 | 第48-49页 |
| ·实验结果分析 | 第49-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 SURF配准算法 | 第52-64页 |
| ·SURF算法思想 | 第52-59页 |
| ·积分图像 | 第52-53页 |
| ·SURF特征点检测 | 第53-57页 |
| ·快速Hessian矩阵 | 第53-54页 |
| ·构建尺度空间 | 第54-56页 |
| ·特征点精确定位 | 第56-57页 |
| ·SURF特征点描述 | 第57-59页 |
| ·确定主方向 | 第57-58页 |
| ·建立特征点描述向量 | 第58-59页 |
| ·特征匹配 | 第59页 |
| ·结果分析 | 第59-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 附件 | 第72页 |
