| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-33页 |
| 1.1 衍射极限 | 第11-14页 |
| 1.2 超分辨成像技术研究现状 | 第14-22页 |
| 1.2.1 扫描近场光学显微镜 | 第16-17页 |
| 1.2.2 负折射率超材料 | 第17-20页 |
| 1.2.3 超分辨荧光成像技术 | 第20-22页 |
| 1.3 光学超振荡现象研究现状 | 第22-31页 |
| 1.3.1 超振荡现象发展 | 第22-25页 |
| 1.3.2 光学超振荡现象应用 | 第25-31页 |
| 1.4 超振荡现象研究存在的科学问题 | 第31-32页 |
| 1.5 论文研究内容及章节安排 | 第32-33页 |
| 第2章 光学超振荡现象理论基础和分析方法 | 第33-47页 |
| 2.1 超振荡现象判据标准 | 第33-36页 |
| 2.1.1 一般性判据 | 第33-34页 |
| 2.1.2 严格判据 | 第34-36页 |
| 2.2 超振荡器件衍射场计算 | 第36-41页 |
| 2.2.1 标量衍射场计算：菲涅尔衍射积分、夫琅禾费衍射积分 | 第36-39页 |
| 2.2.2 矢量衍射场计算：矢量Debye- Wolf衍射积分、矢量角谱理论 | 第39-41页 |
| 2.3 亚波长结构电磁场分析 | 第41-45页 |
| 2.3.1 金属材料色散模型 | 第41-43页 |
| 2.3.2 电磁场数值计算方法：时域有限差分法、有限元法 | 第43-45页 |
| 2.4 本章小结 | 第45-47页 |
| 第3章 基于超振荡光场的超分辨望远成像系统 | 第47-67页 |
| 3.1 引言 | 第47-48页 |
| 3.2 成像系统设计和超振荡器件优化设计 | 第48-51页 |
| 3.3 局部光学传递函数模型 | 第51-55页 |
| 3.4 超分辨成像实验测试 | 第55-66页 |
| 3.4.1 器件误差分析 | 第55-56页 |
| 3.4.2 器件加工方法 | 第56-57页 |
| 3.4.3 点扩散函数 | 第57-58页 |
| 3.4.4 成像分辨率 | 第58-61页 |
| 3.4.5 离轴成像 | 第61-63页 |
| 3.4.6 复杂物体成像 | 第63-66页 |
| 3.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 第4章 基于亚波长结构宽带超振荡透镜 | 第67-89页 |
| 4.1 引言 | 第67-68页 |
| 4.2 亚波长结构电磁场调制机理 | 第68-70页 |
| 4.3 亚波长矩形孔电磁场调制特性 | 第70-73页 |
| 4.3.1 偶极子模型 | 第70-71页 |
| 4.3.2 数值分析 | 第71-73页 |
| 4.4 器件设计方法和宽带衍射场分析 | 第73-83页 |
| 4.4.1 单波长器件设计方法 | 第73-76页 |
| 4.4.2 宽带性能分析 | 第76-79页 |
| 4.4.3 聚焦能量分析 | 第79-80页 |
| 4.4.4 全模仿真分析 | 第80-83页 |
| 4.5 宽带超振荡器件实验测试 | 第83-87页 |
| 4.5.1 实验光路 | 第83页 |
| 4.5.2 样品加工 | 第83-84页 |
| 4.5.3 宽带聚焦测试 | 第84-87页 |
| 4.6 本章小结 | 第87-89页 |
| 第5章 基于亚波长结构消轴向色差超振荡透镜 | 第89-103页 |
| 5.1 引言 | 第89-91页 |
| 5.2 双波长消轴向色差超振荡透镜 | 第91-94页 |
| 5.3 宽带消轴向色差超振荡透镜 | 第94-102页 |
| 5.3.1 设计方法 | 第94-97页 |
| 5.3.2 样品加工 | 第97-98页 |
| 5.3.3 实验测试 | 第98-102页 |
| 5.4 本章小结 | 第102-103页 |
| 第6章 总结与展望 | 第103-105页 |
| 6.1 论文主要创新点 | 第103-104页 |
| 6.2 未来工作展望 | 第104-105页 |
| 参考文献 | 第105-115页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第115页 |
