基于Nios Ⅱ的暂态电能质量扰动检测的SOPC设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| abstract | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-16页 |
| ·选题背景及研究意义 | 第9-11页 |
| ·选题背景 | 第9-10页 |
| ·电能质量的分类 | 第10页 |
| ·研究意义 | 第10-11页 |
| ·国内外发展状况 | 第11-13页 |
| ·国外电能质量监测现状 | 第11-12页 |
| ·国内电能质量监测现状 | 第12页 |
| ·暂态电能质量监测方法 | 第12-13页 |
| ·本论文的工作和结构 | 第13-16页 |
| 第2章 暂态电能质量扰动信号模型与小波基础 | 第16-24页 |
| ·引言 | 第16页 |
| ·扰动信号模型的建立 | 第16-18页 |
| ·小波变换的定义 | 第18页 |
| ·小波变换的特点 | 第18-19页 |
| ·Mallat 算法 | 第19-20页 |
| ·小波基函数 | 第20-21页 |
| ·小波变换在暂态电能质量扰动信号检测中的应用 | 第21-24页 |
| 第3章 SOPC 系统架构 | 第24-30页 |
| ·SOPC 最小系统 | 第24-25页 |
| ·Nios II 软核 | 第24页 |
| ·Flash 存储器 | 第24-25页 |
| ·Sdram 存储器 | 第25页 |
| ·Avalon 系统总线 | 第25-27页 |
| ·Avalon 总线从端口读传输 | 第25-26页 |
| ·Avalon 总线从端口写传输 | 第26-27页 |
| ·硬件系统实现 | 第27-30页 |
| 第4章 外围接口模块设计 | 第30-45页 |
| ·LCD 模块的设计和实现 | 第30-33页 |
| ·液晶模块概述 | 第30页 |
| ·接口时序说明 | 第30页 |
| ·驱动设计 | 第30-33页 |
| ·ADC 模块的设计和实现 | 第33-38页 |
| ·采样点数的选择 | 第33-34页 |
| ·AD 芯片的选取 | 第34-35页 |
| ·驱动设计 | 第35-38页 |
| ·矩阵键盘模块的设计和实现 | 第38-40页 |
| ·矩阵键盘概述 | 第38页 |
| ·驱动设计 | 第38-40页 |
| ·SPI 通信模块的设计和实现 | 第40-45页 |
| ·SPI 概述 | 第40-41页 |
| ·SPI 驱动设计 | 第41-42页 |
| ·SPI 通信时序 | 第42-45页 |
| 第5章 小波检测算法模块设计 | 第45-60页 |
| ·算法概述 | 第45-46页 |
| ·一维离散小波(1D-DWT)算法 | 第45页 |
| ·Mallat 算法原理及实现思路 | 第45-46页 |
| ·DA 算法及其实现 | 第46-48页 |
| ·串行级联查找表结构——优化资源 | 第47-48页 |
| ·多位并行查找表结构——优化时钟 | 第48页 |
| ·算法系统实现思路 | 第48-50页 |
| ·精度设置问题 | 第48-49页 |
| ·位宽计算问题 | 第49-50页 |
| ·边界延拓问题 | 第50页 |
| ·一维DWT 算法系统的高速实现 | 第50-60页 |
| ·算法系统电路设计 | 第50-53页 |
| ·算法系统电路仿真 | 第53-60页 |
| 第6章 SOPC 系统验证 | 第60-69页 |
| ·SOPC 验证概述 | 第60-61页 |
| ·Avalon 总线地址对齐 | 第60-61页 |
| ·硬件功能验证 | 第61-69页 |
| ·SPI 通信验证 | 第61-64页 |
| ·KEY 键盘输入验证 | 第64-65页 |
| ·小波检测算法电路验证 | 第65-69页 |
| 第7章 总结与展望 | 第69-71页 |
| ·总结 | 第69-70页 |
| ·展望 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 附录1 寄存器列表 | 第75-79页 |
| 附录2 设计源文件清单 | 第79-80页 |
| 攻读学位期间参加的科研项目和成果 | 第80页 |
