光学薄膜相位特性测试的研究
致谢 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-18页 |
·光学薄膜技术的应用和发展 | 第10页 |
·光学薄膜的相位特性 | 第10-13页 |
·薄膜的反射相位和透射相位 | 第10-12页 |
·薄膜的群延迟和群延迟色散 | 第12-13页 |
·光学薄膜相位特性测试的意义 | 第13-15页 |
·本论文的主要研究内容和创新点 | 第15-18页 |
第二章 光学薄膜相位特性的测试系统 | 第18-36页 |
·基于白光干涉的相位测试原理 | 第18-22页 |
·迈克尔逊白光干涉仪 | 第18-20页 |
·相位测试原理 | 第20-22页 |
·国内外相位测试系统回顾 | 第22-25页 |
·实际搭建的相位测试系统 | 第25-29页 |
·系统误差分析 | 第29-35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
第三章 薄膜相位测试的算法分析 | 第36-49页 |
·单幅干涉图提取相位算法 | 第36-42页 |
·窗口傅立叶变换解相位算法 | 第36-38页 |
·节点拟合解相位算法 | 第38-41页 |
·小波变换解群延迟算法 | 第41-42页 |
·二维时域提取群延迟算法 | 第42-47页 |
·四种算法的比较与分析 | 第47-48页 |
·本章小结 | 第48-49页 |
第四章 薄膜相位特性的测试结果分析 | 第49-63页 |
·绝对相位的测试 | 第49-51页 |
·群延迟色散测试 | 第51-57页 |
·G-T腔的群延迟色散测试 | 第51-55页 |
·啁啾镜的群延迟色散测试 | 第55-57页 |
·测试系统的其他应用 | 第57-62页 |
·块状材料的群折射率测试 | 第57-60页 |
·PZT薄膜的压电特性测试 | 第60-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
第五章 总结与展望 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-70页 |
作者简历 | 第70页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第70页 |