涡流检测系统与缺陷信号处理研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-7页 |
| 1 绪论 | 第7-12页 |
| ·选题的背景及意义 | 第7页 |
| ·无损检测技术概述 | 第7-8页 |
| ·涡流无损检测技术概论及研究现状 | 第8页 |
| ·涡流信号分析处理技术概述 | 第8-10页 |
| ·本文主要研究内容及技术路线 | 第10-12页 |
| ·主要研究内容 | 第10页 |
| ·技术路线 | 第10-12页 |
| 2 涡流检测技术的理论基础 | 第12-22页 |
| ·涡流检测原理 | 第12-13页 |
| ·平面导体中的磁场分析 | 第13-15页 |
| ·集肤效应 | 第15-16页 |
| ·涡流信号的阻抗信号 | 第16-19页 |
| ·阻抗分析 | 第16-18页 |
| ·阻抗的归一化 | 第18-19页 |
| ·影响阻抗的重要参数 | 第19页 |
| ·阻抗信号的一维(幅值)处理与特征量的提取 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-22页 |
| 3 涡流信号的去噪处理 | 第22-36页 |
| ·小波分析理论基础 | 第22-24页 |
| ·基于小波分析的去噪技术 | 第24-26页 |
| ·小波基的选择 | 第24-25页 |
| ·阈值规则的选择 | 第25-26页 |
| ·小波去噪实验 | 第26-30页 |
| ·基于小波包分析的信号消噪技术 | 第30-32页 |
| ·小波包去噪实验 | 第32-34页 |
| ·去噪实验结果比较 | 第34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 4 涡流检测缺陷的深度定位与分类 | 第36-56页 |
| ·缺陷归类 | 第36页 |
| ·表面缺陷信号的深度定位 | 第36-42页 |
| ·利用峰值来判断表面缺陷的深度 | 第37-40页 |
| ·利用峰值时间判断表面缺陷深度 | 第40-42页 |
| ·近表面缺陷信号的深度定位 | 第42-46页 |
| ·利用峰值判断亚表面缺陷深度 | 第42-44页 |
| ·利用峰值时间判断亚表面缺陷深度 | 第44-46页 |
| ·表面缺陷与近表面缺陷分类 | 第46-55页 |
| ·特征量法 | 第47-49页 |
| ·主分量分析法 | 第49-52页 |
| ·基于特征值的主分量分析法 | 第52-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 5 涡流系统设计与实现 | 第56-67页 |
| ·涡流检测系统构成 | 第56页 |
| ·LABVIEW软件简介 | 第56-57页 |
| ·基于LABVIEW的涡流检测系统软件 | 第57-63页 |
| ·软件主界面 | 第57-58页 |
| ·显示模块 | 第58-59页 |
| ·去噪模块 | 第59-60页 |
| ·特征量提取模块 | 第60-61页 |
| ·缺陷分类模块 | 第61-62页 |
| ·深度定位模块 | 第62-63页 |
| ·实验验证 | 第63-65页 |
| ·表面缺陷实验 | 第63-64页 |
| ·亚表面缺陷实验 | 第64-65页 |
| ·本章小结 | 第65-67页 |
| 6 结论与展望 | 第67-68页 |
| ·结论 | 第67页 |
| ·展望 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
