| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-8页 |
| 1 绪论 | 第8-12页 |
| ·课题的背景及研究意义 | 第8-9页 |
| ·课题背景 | 第8页 |
| ·课题的意义 | 第8-9页 |
| ·单相自适应重合闸研究现状 | 第9-11页 |
| ·本文的研究内容 | 第11-12页 |
| 2 并联电抗器和串联电容对线路的影响分析 | 第12-28页 |
| ·并联电抗器及小电抗特性分析 | 第12-22页 |
| ·并联电抗器安装地点选择 | 第12页 |
| ·并联电抗器补偿度选择 | 第12-13页 |
| ·并联电抗器与谐振过电压 | 第13-16页 |
| ·并联电抗器中性点小电抗选择 | 第16-20页 |
| ·小电抗对潜供电流和恢复电压的影响 | 第20-22页 |
| ·串联电容补偿特性分析 | 第22-26页 |
| ·串联电容补偿工作原理 | 第22-23页 |
| ·串联补偿装置安装地点选择 | 第23页 |
| ·串联补偿装置补偿度选择 | 第23-24页 |
| ·串联补偿装置对线路的影响 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-28页 |
| 3 超高压输电线路单相接地故障分析 | 第28-45页 |
| ·单相接地故障相端电压分析 | 第28-32页 |
| ·静电耦合电压 | 第28-30页 |
| ·电磁耦合电压 | 第30页 |
| ·单相瞬时性故障 | 第30-32页 |
| ·单相永久性故障 | 第32页 |
| ·接地故障的恢复电压频域分析 | 第32-36页 |
| ·瞬时性接地故障 | 第32-34页 |
| ·永久性接地故障 | 第34-36页 |
| ·并联电抗器对恢复电压的影响 | 第36-38页 |
| ·单相瞬时性接地故障 | 第36-37页 |
| ·单相永久性接地故障 | 第37-38页 |
| ·串联补偿电容对恢复电压的影响 | 第38-41页 |
| ·单相瞬时性故障 | 第38-39页 |
| ·单相永久性故障 | 第39-41页 |
| ·单相接地故障仿真分析 | 第41-44页 |
| ·单回带并联电抗器线路 | 第41-42页 |
| ·单回带串补装置线路 | 第42-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 4 基于子空间分解的功率谱判据研究 | 第45-59页 |
| ·概述 | 第45-47页 |
| ·功率谱发展历程 | 第45页 |
| ·功率谱分类及特点 | 第45-46页 |
| ·在电力系统中的频率估计 | 第46-47页 |
| ·旋转不变子空间(ESPRIT)算法 | 第47-54页 |
| ·ESPRIT 算法的基本原理 | 第47-50页 |
| ·基于奇异值分解(SVD)去噪的 ESPRIT 算法 | 第50-52页 |
| ·对 ESPRIT 算法的仿真验证 | 第52-54页 |
| ·基于 ESPRIT 算法的单相自适应重合闸判据 | 第54-55页 |
| ·影响功率谱判据可靠性的因素 | 第55-58页 |
| ·噪声对判据的影响 | 第55-56页 |
| ·线路并联电抗器对判据的影响 | 第56-57页 |
| ·系统输送容量对判据的影响 | 第57页 |
| ·线路串联电容器对判据的影响 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 5 基于 ESPRIT 算法的故障判据仿真验证 | 第59-77页 |
| ·超高压线路参数设置 | 第59-60页 |
| ·带并联电抗器的超高压线路故障判据仿真验证 | 第60-68页 |
| ·单端带并联电抗器时的仿真验证 | 第60-62页 |
| ·双端带并联电抗器时的仿真验证 | 第62-68页 |
| ·对不同噪声时的判据仿真验证 | 第68-72页 |
| ·带单端并联电抗器线路 | 第68-70页 |
| ·带双端并联电抗器线路 | 第70-72页 |
| ·带串补装置的超高压线路故障判据仿真验证 | 第72-76页 |
| ·补偿度为 40%的仿真验证 | 第73-74页 |
| ·补偿度为 50%的仿真验证 | 第74页 |
| ·补偿度为 60%的仿真验证 | 第74-75页 |
| ·补偿度为 70%的仿真验证 | 第75-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 6 结论与展望 | 第77-79页 |
| ·结论 | 第77-78页 |
| ·工作展望 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-83页 |