GaN基LED老化机理的分析与研究
摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-12页 |
第1章 绪论 | 第12-15页 |
·LED老化机理研究的意义 | 第12页 |
·国内外研究现状 | 第12-14页 |
·本论文研究的内容 | 第14-15页 |
第2章 可靠性理论分析 | 第15-19页 |
·可靠性概述 | 第15页 |
·可靠性特征量 | 第15-16页 |
·可靠度 | 第15-16页 |
·累积失效率 | 第16页 |
·失效率 | 第16页 |
·加速寿命实验 | 第16-17页 |
·推导模型 | 第17-18页 |
·本章小结 | 第18-19页 |
第3章 静电对LED老化机理的研究 | 第19-25页 |
·实验样品 | 第19页 |
·实验设计 | 第19-20页 |
·实验结果与分析 | 第20-24页 |
·静电对LED样品Ⅰ-Ⅴ特性的影响 | 第20-21页 |
·静电对LED光通量的影响 | 第21-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
第4章 温度对LED发光性能的影响 | 第25-35页 |
·实验样品 | 第25-26页 |
·实验设计 | 第26页 |
·结果与分析 | 第26-34页 |
·相关色温受温度的影响 | 第26-27页 |
·辐射通量受温度的影响 | 第27-28页 |
·光通量受温度的影响 | 第28-29页 |
·主波长受温度的影响 | 第29页 |
·峰值波长和谱线半宽受温度的影响 | 第29-32页 |
·发光效率受温度的影响 | 第32-33页 |
·正向电压受温度的影响 | 第33-34页 |
·本章小结 | 第34-35页 |
第5章 LED失效机理的分析 | 第35-46页 |
·LED寿命老化实验的方法 | 第35-36页 |
·温度过应力实验 | 第36-39页 |
·实验样品 | 第36页 |
·实验设计 | 第36-37页 |
·实验结果与分析 | 第37-39页 |
·电流过应力实验 | 第39-41页 |
·实验样品 | 第39页 |
·实验设计 | 第39页 |
·实验结果与分析 | 第39-41页 |
·半导体器件失效分析 | 第41-43页 |
·半导体器件失效率曲线 | 第41-42页 |
·功率型LED的失效现象和失效机理 | 第42-43页 |
·功率型LED的寿命外推 | 第43-45页 |
·温度应力加速寿命实验的寿命外推 | 第43-44页 |
·电流应力加速寿命实验的寿命外推 | 第44-45页 |
·本章小结 | 第45-46页 |
结论 | 第46-48页 |
参考文献 | 第48-51页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第51-52页 |
致谢 | 第52页 |