| 中文摘要 | 第1-3页 |
| 英文摘要 | 第3-8页 |
| 第一章 FeS_2薄膜太阳能电池材料的研究现状及进展 | 第8-30页 |
| 1．1 太阳能电池的发展 | 第8-9页 |
| 1．2 FeS_2薄膜研究的兴起 | 第9-10页 |
| 1．3 FeS_2的晶体结构 | 第10页 |
| 1．4 FeS_2薄膜的制备方法 | 第10-19页 |
| 1．4．1 Fe膜的热硫化 | 第10-12页 |
| 1．4．2 磁控溅射 | 第12-13页 |
| 1．4．3 化学气相沉积（CVD） | 第13-15页 |
| 1．4．4 热蒸镀及闪蒸镀 | 第15-16页 |
| 1．4．5 化学喷雾热解（CPS） | 第16页 |
| 1．4．6 化学气相运输（CVT） | 第16-18页 |
| 1．4．7 氧化铁膜的硫化 | 第18页 |
| 1．4．8 分子束外延生长（MBE） | 第18-19页 |
| 1．5 FeS_2薄膜的光电性能 | 第19-23页 |
| 1．5．1 制备方法对FeS_2薄膜光电性能的影响 | 第19-20页 |
| 1．5．2 硫化工艺对FeS_2薄膜光电性能的影响 | 第20-21页 |
| 1．5．3 掺杂对FeS_2薄膜光电性能的影响 | 第21-23页 |
| 1．6 FeS_2薄膜的光电转化效率 | 第23-24页 |
| 1．7 结束语 | 第24-26页 |
| 参考文献 | 第26-30页 |
| 第二章 薄膜制备及性能研究方法 | 第30-37页 |
| 2．1 FeS_2薄膜的制备 | 第30-31页 |
| 2．1．1 基片的准备 | 第30页 |
| 2．1．2 Fe膜的制备 | 第30-31页 |
| 2．1．3 Fe膜的硫化 | 第31页 |
| 2．2 FeS_2薄膜电池的制备 | 第31-34页 |
| 2．2．1 ITO基片的清洗 | 第31页 |
| 2．2．2 TiO_2薄膜的制备 | 第31-33页 |
| 2．2．3 Fe膜和Al保护膜的制备 | 第33页 |
| 2．2．4 Fe膜的硫化 | 第33-34页 |
| 2．3 FeS_2薄膜的性能测试 | 第34-37页 |
| 2．3．1 晶体结构分析 | 第34页 |
| 2．3．2 组织和成分分析 | 第34-35页 |
| 2．3．3 光学性能 | 第35页 |
| 2．3．4 半导体性能测试 | 第35页 |
| 2．3．5 光电转换效率测定 | 第35-37页 |
| 第三章 薄膜晶体结构和化学成分研究 | 第37-47页 |
| 3．1 薄膜晶体结构研究 | 第37-42页 |
| 3．1．1 硫化温度对薄膜晶体结构的影响 | 第37-39页 |
| 3．1．2 硫化时间对薄膜晶体结构的影响 | 第39-40页 |
| 3．1．3 硫化压力对薄膜晶体结构的影响 | 第40页 |
| 3．1．4 不同衬底对薄膜晶体结构的影响 | 第40-41页 |
| 3．1．5 不同厚度对薄膜晶体结构的影响 | 第41-42页 |
| 3．2 薄膜化学成分研究 | 第42-46页 |
| 3．2．1 硫化温度对薄膜化学成分的影响 | 第42-43页 |
| 3．2．2 硫化时间对薄膜化学成分的影响 | 第43-44页 |
| 3．2．3 硫化压力对薄膜化学成分的影响 | 第44页 |
| 3．2．4 厚度对薄膜化学成分的影响 | 第44-46页 |
| 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 薄膜组织形态的研究 | 第47-55页 |
| 4．1 薄膜晶粒尺寸的研究 | 第47-50页 |
| 4．1．1 硫化温度对薄膜晶粒尺寸的影响 | 第47页 |
| 4．1．2 硫化时间对薄膜晶粒尺寸的影响 | 第47-49页 |
| 4．1．3 硫化压力对薄膜晶粒尺寸的影响 | 第49-50页 |
| 4．2 薄膜显微组织的研究 | 第50-54页 |
| 4．2．1 硫化温度对薄膜组织形态的影响 | 第50-52页 |
| 4．2．2 硫化时间对薄膜组织形态的影响 | 第52页 |
| 4．2．3 硫化压力对薄膜组织形态的影响 | 第52页 |
| 4．2．4 厚度对薄膜组织形态的影响 | 第52-54页 |
| 本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 薄膜光学性能研究 | 第55-63页 |
| 5．1 薄膜光吸收研究 | 第55-59页 |
| 5．2 薄膜禁带宽度研究 | 第59-62页 |
| 5．2．1 硫化温度对薄膜禁带宽度的影响 | 第59-60页 |
| 5．2．2 硫化时间对薄膜禁带宽度的影响 | 第60页 |
| 5．2．3 硫化压力对薄膜禁带宽度的影响 | 第60-61页 |
| 5．2．4 厚度对薄膜禁带宽度的影响 | 第61-62页 |
| 本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 薄膜电学性能的研究 | 第63-70页 |
| 6．1 薄膜电阻率研究 | 第63-67页 |
| 6．1．1 硫化温度对薄膜电阻率的影响 | 第63-64页 |
| 6．1．2 硫化时间对薄膜电阻率的影响 | 第64-66页 |
| 6．1．3 硫化压力对薄膜电阻率的影响 | 第66页 |
| 6．1．4 厚度对薄膜电阻率的影响 | 第66-67页 |
| 6．2 薄膜导电类型的研究 | 第67-69页 |
| 本章小结 | 第69-70页 |
| 第七章 FeS_2薄膜电池的制备及光电转换效率的研究 | 第70-78页 |
| 7．1 光电转换基本原理 | 第70-71页 |
| 7．2 实验结果及分析 | 第71-75页 |
| 7．2．1 XRD分析 | 第71-72页 |
| 7．2．2 开路电压V_（?）与薄膜厚度的关系 | 第72-73页 |
| 7．2．3 短路电流I_（st）与薄膜厚度的关系 | 第73-74页 |
| 7．2．4 薄膜光电转换效率与厚度的关系 | 第74-75页 |
| 7．3 讨论 | 第75-77页 |
| 本章小结 | 第77-78页 |
| 全文结论 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-81页 |
| 附图1 | 第81-83页 |
| 硕士期间发表的论文 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84页 |
