熔断电阻器瞬态特性仿真分析及其性能的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| ·熔断电阻器的概述 | 第11-15页 |
| ·熔断电阻器的类型 | 第11-13页 |
| ·熔断电阻器的特性 | 第13-14页 |
| ·熔断电阻器制作工艺 | 第14-15页 |
| ·熔断电阻器发展前景 | 第15-16页 |
| ·熔断电阻器的应用 | 第16-17页 |
| ·本论文的研究内容及方法 | 第17-18页 |
| 第二章 熔断电阻器熔断过程的理论分析 | 第18-26页 |
| ·熔断电阻器的工作原理 | 第18-19页 |
| ·熔断电阻器理论模型的建立 | 第19-22页 |
| ·熔体的温度分布分析 | 第19-20页 |
| ·熔体的电流分布分析 | 第20-21页 |
| ·熔体的热电耦合分析 | 第21-22页 |
| ·熔断电阻器的散热方式 | 第22-24页 |
| ·额定功率下熔断电阻器的热稳定过程 | 第24页 |
| ·熔断电阻器的熔断特性 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 基于有限元方法对熔断过程的分析 | 第26-42页 |
| ·有限元分析技术 | 第26-28页 |
| ·有限元的发展状况 | 第26页 |
| ·有限元法的应用 | 第26-27页 |
| ·影响有限元的因素 | 第27页 |
| ·有限元分析步骤 | 第27-28页 |
| ·有限元分析软件 ANSYS | 第28-29页 |
| ·ANSYS 的简介 | 第28页 |
| ·ANSYS 有限元分析的典型步骤 | 第28-29页 |
| ·基于 ANSYS 的建模与网格划分 | 第29-41页 |
| ·选择单元类型 | 第29-30页 |
| ·设置材料属性 | 第30-33页 |
| ·建立实体模型 | 第33-34页 |
| ·网格划分 | 第34-36页 |
| ·施加载荷 | 第36-37页 |
| ·定义载荷步并求解 | 第37页 |
| ·求解与分析 | 第37-41页 |
| ·验证仿真结果 | 第41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 熔断电阻器材料参数对其熔断特性的影响 | 第42-51页 |
| ·熔丝材料对熔断特性的影响 | 第42-45页 |
| ·熔丝材料特性的对比 | 第42-44页 |
| ·仿真结果及分析 | 第44-45页 |
| ·熔丝的线径对熔断特性的影响 | 第45-46页 |
| ·熔丝的电阻温度系数对熔断特性的影响 | 第46-47页 |
| ·熔丝的导热系数对熔断特性的影响 | 第47-48页 |
| ·涂层厚度对熔断特性的影响 | 第48-49页 |
| ·陶瓷基体的导热系数对熔断时间的影响 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 封装涂料对熔断电阻器性能影响的研究 | 第51-65页 |
| ·环氧树脂的结构与性能之间的关系 | 第51-52页 |
| ·粉料性能的研究 | 第52-54页 |
| ·粉料在高温下的性质分析 | 第52-53页 |
| ·粉料的差热、热失重分析及原理 | 第53-54页 |
| ·电阻器的涂覆工艺及固化工艺 | 第54-55页 |
| ·电阻器的涂覆工艺 | 第55页 |
| ·封装涂料的固化工艺 | 第55页 |
| ·涂料的厚度对耐压特性的影响 | 第55-58页 |
| ·涂覆工艺流程 | 第56-57页 |
| ·耐压试验 | 第57-58页 |
| ·稀释剂含量对耐压特性的影响 | 第58-60页 |
| ·添加剂对熔断器性能的影响 | 第60-64页 |
| ·二氧化硅的性能分析 | 第61页 |
| ·二氧化硅对熔断电阻器耐压特性的影响 | 第61-62页 |
| ·添加剂对熔断特性的影响 | 第62-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 结论 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第70-71页 |
