| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| ·研究背景 | 第8-9页 |
| ·面源黑体 | 第9页 |
| ·常温面源黑体国内外技术对比 | 第9-11页 |
| ·热力学温标体系及温度测量分类 | 第11-14页 |
| ·国家温度基准器具 | 第12-13页 |
| ·国家计量器具 | 第13-14页 |
| ·温度测量分类 | 第14页 |
| ·课题研究的内容及技术指标 | 第14-15页 |
| ·课题研究的来源 | 第15-16页 |
| 2 方案设计及分析 | 第16-24页 |
| ·温度测量传感器 | 第16-17页 |
| ·温度传感器选择 | 第16页 |
| ·温度传感器的指标参数 | 第16-17页 |
| ·铂电阻采用的测温方法 | 第17-19页 |
| ·恒流源驱动 | 第17-18页 |
| ·恒压源驱动 | 第18-19页 |
| ·恒流法驱动的热敏电阻 | 第19页 |
| ·温度数据采集 | 第19-20页 |
| ·半导体热电制冷器 | 第20页 |
| ·TEC的驱动方法 | 第20-21页 |
| ·面源黑体的控制方法 | 第21-23页 |
| ·中央处理控制器 | 第23-24页 |
| 3 硬件电路设计 | 第24-32页 |
| ·恒流源电路 | 第24-25页 |
| ·测温电路 | 第25-26页 |
| ·ADC数据采集 | 第26-27页 |
| ·AD7190 | 第26页 |
| ·AD7190的数据传输接口 | 第26-27页 |
| ·SSI数据接口 | 第27-28页 |
| ·SSI接口帧格式 | 第27-28页 |
| ·与ADC通信的帧格式 | 第28页 |
| ·测量系统硬件校准 | 第28-30页 |
| ·测量放大电路与ADC数据采集电路的校准 | 第29页 |
| ·恒流源的校准 | 第29-30页 |
| ·控制系统设计 | 第30-32页 |
| 4 温度测量数据处理 | 第32-36页 |
| ·测量数据的数字滤波 | 第32-34页 |
| ·测温系统的系统校正处理 | 第34-35页 |
| ·实验数据 | 第35-36页 |
| 5 基于ARM的软件开发 | 第36-44页 |
| ·ARM芯片的软件开发平台 | 第36-37页 |
| ·ARM ADS1.2开发软件 | 第36页 |
| ·RealView MDK软件 | 第36页 |
| ·TKStudio软件 | 第36-37页 |
| ·AK100仿真器 | 第37页 |
| ·AK100与RealView MDK仿真环境设置 | 第37-39页 |
| ·AD7190的程序主要函数定义 | 第39-44页 |
| 6 温面源黑体温度控制方法 | 第44-54页 |
| ·常温面源黑体控制方法 | 第44-45页 |
| ·大林算法及Smith预估控制 | 第45页 |
| ·系统时域稳定性和BANG-BANG控制 | 第45-46页 |
| ·常温面源黑体的BANG-BANG控制 | 第45-46页 |
| ·PID控制方法 | 第46-48页 |
| ·PID经典控制 | 第47页 |
| ·增量式数字PID控制 | 第47-48页 |
| ·PID参数整定 | 第48页 |
| ·F-PID控制 | 第48-54页 |
| ·模糊控制器的结构选择 | 第49页 |
| ·糊规则的选取 | 第49页 |
| ·确定模糊控制器模糊化和解模糊化 | 第49页 |
| ·糊糊控制器的参数确定 | 第49-50页 |
| ·糊糊控制器算法程序的编写 | 第50页 |
| ·模糊PID控制器的设计 | 第50-52页 |
| ·模糊PID控制器△Kp求值 | 第52-54页 |
| 7 实验结果与分析 | 第54-58页 |
| ·PID调试的原则 | 第54页 |
| ·PID调试实验 | 第54-56页 |
| ·恒流源的测试 | 第56页 |
| ·ADC数据测试 | 第56-57页 |
| ·温度测试 | 第57-58页 |
| 8 结论 | 第58-60页 |
| ·论文总结 | 第58页 |
| ·下一步工作展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 附录 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-66页 |