| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-7页 |
| 1 引论 | 第7-10页 |
| ·背景介绍 | 第7-8页 |
| ·本文主要内容和创新点 | 第8-10页 |
| 2 经典检验的理论基础 | 第10-15页 |
| ·偏度函数 | 第10-12页 |
| ·统计量的估计 | 第12-13页 |
| ·基于双谱的经典检验 | 第13-15页 |
| 3 改进的正态性和线性的检验 | 第15-20页 |
| ·简化的检验统计量 | 第15-16页 |
| ·替代数据法 | 第16-18页 |
| ·自助法 | 第18-20页 |
| 4 数据模拟 | 第20-24页 |
| ·模拟时间序列 | 第20-21页 |
| ·模拟结果 | 第21-24页 |
| 5 总结与展望 | 第24-25页 |
| ·内容总结 | 第24页 |
| ·未来展望 | 第24-25页 |
| 参考文献 | 第25-27页 |
| 致谢 | 第27-28页 |