摘要 | 第1-10页 |
ABSTRACT | 第10-12页 |
第一章 绪论 | 第12-19页 |
·课题来源 | 第12页 |
·研究背景及意义 | 第12-13页 |
·国内外研究现状 | 第13-16页 |
·加速退化试验方法及应用研究现状 | 第13-15页 |
·多退化系统退化试验研究现状 | 第15-16页 |
·研究思路与主要内容 | 第16-19页 |
·问题的提出 | 第16页 |
·研究思路 | 第16-17页 |
·主要内容 | 第17-19页 |
第二章 多退化系统加速退化试验模型 | 第19-29页 |
·多退化系统失效分析 | 第19-23页 |
·产品退化失效分析 | 第19-20页 |
·多退化系统退化失效分析 | 第20-23页 |
·退化模型 | 第23-24页 |
·退化量分布模型 | 第24-26页 |
·不相关情形下的退化量分布模型 | 第25页 |
·相关情形下的退化量分布模型 | 第25-26页 |
·加速模型 | 第26-28页 |
·Arrhenius 模型 | 第26-27页 |
·逆幂律模型 | 第27页 |
·Eyring 模型 | 第27-28页 |
·多项式加速模型 | 第28页 |
·本章小结 | 第28-29页 |
第三章 基于多性能参数的加速退化试验方法 | 第29-37页 |
·基本思想 | 第29页 |
·基于多性能参数的加速退化试验方法 | 第29-33页 |
·性能参数相关性检验 | 第30-31页 |
·退化量分布模型参数的拟合与外推 | 第31-33页 |
·多退化系统可靠性指标评估 | 第33页 |
·仿真验证 | 第33-36页 |
·仿真数据生成 | 第33-34页 |
·仿真结果分析 | 第34-36页 |
·本章小结 | 第36-37页 |
第四章 滚控电路板加速退化试验方案设计 | 第37-51页 |
·滚控电路板工作原理与失效分析 | 第37-39页 |
·滚控电路板基本结构与工作原理 | 第37-38页 |
·滚控电路板贮存失效分析 | 第38-39页 |
·滚控电路板加速退化试验平台 | 第39-41页 |
·试验设备 | 第39-40页 |
·测试设备 | 第40-41页 |
·测试步骤 | 第41页 |
·预试验分析 | 第41-48页 |
·预试验方案 | 第41-45页 |
·预试验数据分析 | 第45-48页 |
·滚控电路板加速退化试验方案设计 | 第48-50页 |
·试验应力及加载方式 | 第49页 |
·应力水平数及应力水平 | 第49页 |
·样本量及样本量分配 | 第49页 |
·截尾方式与截尾时间 | 第49-50页 |
·测试点设置 | 第50页 |
·本章小结 | 第50-51页 |
第五章 滚控电路板加速退化试验统计分析 | 第51-61页 |
·滚控电路板加速退化试验过程 | 第51-52页 |
·试验数据 | 第52-54页 |
·性能参数1(负脉宽与正脉宽之差△T )的试验数据 | 第52-53页 |
·性能参数2(周期T)的试验数据 | 第53-54页 |
·退化模型适用性分析 | 第54页 |
·基于多性能参数的滚控电路板加速退化试验统计分析 | 第54-60页 |
·性能参数相关性检验 | 第54-55页 |
·退化量分布模型参数的拟合与外推 | 第55-59页 |
·可靠性评估及寿命预测 | 第59-60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
第六章 结论与展望 | 第61-63页 |
·研究结论 | 第61页 |
·研究展望 | 第61-63页 |
致谢 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-68页 |
作者在学期间取得的学术成果 | 第68页 |