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多退化系统加速退化试验方法与应用研究

摘要第1-10页
ABSTRACT第10-12页
第一章 绪论第12-19页
   ·课题来源第12页
   ·研究背景及意义第12-13页
   ·国内外研究现状第13-16页
     ·加速退化试验方法及应用研究现状第13-15页
     ·多退化系统退化试验研究现状第15-16页
   ·研究思路与主要内容第16-19页
     ·问题的提出第16页
     ·研究思路第16-17页
     ·主要内容第17-19页
第二章 多退化系统加速退化试验模型第19-29页
   ·多退化系统失效分析第19-23页
     ·产品退化失效分析第19-20页
     ·多退化系统退化失效分析第20-23页
   ·退化模型第23-24页
   ·退化量分布模型第24-26页
     ·不相关情形下的退化量分布模型第25页
     ·相关情形下的退化量分布模型第25-26页
   ·加速模型第26-28页
     ·Arrhenius 模型第26-27页
     ·逆幂律模型第27页
     ·Eyring 模型第27-28页
     ·多项式加速模型第28页
   ·本章小结第28-29页
第三章 基于多性能参数的加速退化试验方法第29-37页
   ·基本思想第29页
   ·基于多性能参数的加速退化试验方法第29-33页
     ·性能参数相关性检验第30-31页
     ·退化量分布模型参数的拟合与外推第31-33页
     ·多退化系统可靠性指标评估第33页
   ·仿真验证第33-36页
     ·仿真数据生成第33-34页
     ·仿真结果分析第34-36页
   ·本章小结第36-37页
第四章 滚控电路板加速退化试验方案设计第37-51页
   ·滚控电路板工作原理与失效分析第37-39页
     ·滚控电路板基本结构与工作原理第37-38页
     ·滚控电路板贮存失效分析第38-39页
   ·滚控电路板加速退化试验平台第39-41页
     ·试验设备第39-40页
     ·测试设备第40-41页
     ·测试步骤第41页
   ·预试验分析第41-48页
     ·预试验方案第41-45页
     ·预试验数据分析第45-48页
   ·滚控电路板加速退化试验方案设计第48-50页
     ·试验应力及加载方式第49页
     ·应力水平数及应力水平第49页
     ·样本量及样本量分配第49页
     ·截尾方式与截尾时间第49-50页
     ·测试点设置第50页
   ·本章小结第50-51页
第五章 滚控电路板加速退化试验统计分析第51-61页
   ·滚控电路板加速退化试验过程第51-52页
   ·试验数据第52-54页
     ·性能参数1(负脉宽与正脉宽之差△T )的试验数据第52-53页
     ·性能参数2(周期T)的试验数据第53-54页
   ·退化模型适用性分析第54页
   ·基于多性能参数的滚控电路板加速退化试验统计分析第54-60页
     ·性能参数相关性检验第54-55页
     ·退化量分布模型参数的拟合与外推第55-59页
     ·可靠性评估及寿命预测第59-60页
   ·本章小结第60-61页
第六章 结论与展望第61-63页
   ·研究结论第61页
   ·研究展望第61-63页
致谢第63-64页
参考文献第64-68页
作者在学期间取得的学术成果第68页

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