摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第1章 绪论 | 第9-16页 |
·课题研究背景 | 第9-10页 |
·本课题的研究意义 | 第10-11页 |
·超导材料交流损耗的研究进展 | 第11-13页 |
·本课题的特色及难点 | 第13-14页 |
·本课题的特色 | 第13页 |
·本课题的难点 | 第13-14页 |
·本课题的创新之处 | 第14页 |
·本文的主要工作 | 第14-16页 |
第2章 带状超导体的交流损耗 | 第16-22页 |
·交流损耗的机制 | 第16-18页 |
·磁滞损耗 | 第16-17页 |
·涡流损耗 | 第17页 |
·耦合损耗 | 第17-18页 |
·带状超导体交流损耗的计算原理 | 第18-21页 |
·平行交变磁场下的超导板的交流损耗 | 第18-19页 |
·垂直交变磁场下的超导板的交流损耗 | 第19页 |
·超导薄板的自场损耗 | 第19-20页 |
·处于任何方向交变磁场和交变电流的超导薄板的总交流损耗 | 第20-21页 |
·降低交流损耗的方法 | 第21页 |
·本章小结 | 第21-22页 |
第3章 超导体交流损耗的测量方法 | 第22-31页 |
·磁测法 | 第22-23页 |
·磁滞回线法 | 第22-23页 |
·交流磁化率法 | 第23页 |
·电测法 | 第23-27页 |
·探测线圈法 | 第23-25页 |
·四引线法 | 第25-26页 |
·交变磁场中超导体传输交变电流的损耗 | 第26-27页 |
·热测法 | 第27-29页 |
·温度测量法 | 第27页 |
·量热法 | 第27-29页 |
·几种交流损耗测量方法的比较 | 第29-30页 |
·本章小结 | 第30-31页 |
第4章 测量平台的设计与搭建 | 第31-48页 |
·探测线圈法测量平台的设计 | 第31-33页 |
·探测线圈与补偿线圈 | 第31页 |
·补偿电路 | 第31-32页 |
·试样的制备 | 第32页 |
·高均匀度的超导交流磁体 | 第32页 |
·低频交流电源 | 第32-33页 |
·低温容器 | 第33页 |
·信号放大器 | 第33页 |
·数据采集卡 | 第33页 |
·探测线圈法测量平台的实验装置 | 第33-43页 |
·探测线圈与补偿线圈的绕制 | 第33-35页 |
·补偿电路的构建 | 第35页 |
·样品骨架 | 第35页 |
·超导磁体的研制 | 第35-41页 |
·低频交流电源 | 第41页 |
·低温容器 | 第41-42页 |
·信号放大器 | 第42-43页 |
·数据采集卡 | 第43页 |
·纯铅标样的SQUID磁强计法标定 | 第43-45页 |
·采用纯铅标样标定测量平台 | 第45-47页 |
·标定概述 | 第45页 |
·标准试样的线圈结构 | 第45-46页 |
·标准试样的测试条件 | 第46页 |
·用标准试样磁化强度进行标定 | 第46-47页 |
·本章小结 | 第47-48页 |
第5章 铁基超导带材交流损耗的测量 | 第48-53页 |
·交流损耗测量原理 | 第48-49页 |
·测量平台探测系统的补偿 | 第49页 |
·铁基超导带材试样的绕制 | 第49-51页 |
·铁基超导带材交流损耗的测量 | 第51-52页 |
·本章小结 | 第52-53页 |
第6章 测量结果的分析与讨论 | 第53-57页 |
·铁基超导试样交流损耗的理论计算 | 第53-54页 |
·试样超导芯交流损耗的计算 | 第53页 |
·试样包套涡流损耗的计算 | 第53-54页 |
·铁基样品交流损耗测量数据的分析 | 第54-56页 |
·铁基带材交流损耗与背景磁场频率的关系 | 第54-55页 |
·铁基带材交流损耗与背景磁场幅值的关系 | 第55-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第7章 结论与展望 | 第57-59页 |
·结论 | 第57页 |
·展望 | 第57-59页 |
参考文献 | 第59-63页 |
附录 | 第63-65页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及参加的科研工作 | 第65-66页 |
致谢 | 第66页 |