| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-15页 |
| 第1章 绪论 | 第15-42页 |
| ·课题背景 | 第15-16页 |
| ·太阳电池的物理模型及其载流子的运动规律 | 第16-23页 |
| ·太阳电池的物理模型及其工作原理 | 第16-17页 |
| ·太阳电池的直流模型 | 第17-19页 |
| ·载流子的运动规律 | 第19-22页 |
| ·内建电场的特性 | 第22-23页 |
| ·空间太阳电池的带电粒子辐照环境 | 第23-24页 |
| ·等离子体环境 | 第23-24页 |
| ·电离辐射环境 | 第24页 |
| ·空间用太阳电池的发展及应用 | 第24-29页 |
| ·太阳电池的发展 | 第24-26页 |
| ·GaAs 太阳电池的空间应用 | 第26-29页 |
| ·空间GaAs 太阳电池的辐照损伤研究现状 | 第29-40页 |
| ·高能粒子辐照对GaAs 太阳电池电性能的影响 | 第29-31页 |
| ·GaAs 太阳电池辐照缺陷分析 | 第31-35页 |
| ·GaAs 太阳电池空间带电粒子辐照损伤效应表征方法 | 第35-40页 |
| ·本文研究目的和主要内容 | 第40-42页 |
| 第2章 试验材料、设备及方法 | 第42-61页 |
| ·试验材料 | 第42-44页 |
| ·试验装置 | 第44-48页 |
| ·原位测量装置的设计 | 第44-47页 |
| ·空间综合辐照模拟设备 | 第47-48页 |
| ·试验参数的确定 | 第48-55页 |
| ·质子和电子辐照能量的选择 | 第48-50页 |
| ·质子和电子辐照通量的确定 | 第50-51页 |
| ·质子和电子辐照注量的确定 | 第51-53页 |
| ·质子和电子辐照试验方案 | 第53-55页 |
| ·GaAs/Ge 太阳电池电性能测试 | 第55-59页 |
| ·GaAs/Ge 太阳电池辐照效应微观分析方法 | 第59-61页 |
| ·光谱响应测试(SR) | 第59-60页 |
| ·深能级瞬态谱测试(DLTS) | 第60页 |
| ·光致发光光谱测试(PL) | 第60页 |
| ·光学反射谱测试 | 第60页 |
| ·霍耳效应测试 | 第60-61页 |
| 第3章 质子辐照GaAs/Ge 太阳电池性能演化表征 | 第61-71页 |
| ·质子辐照对I-V 特性曲线的影响 | 第61页 |
| ·质子辐照对电性能参数的影响 | 第61-65页 |
| ·短路电流Isc 的变化 | 第61-63页 |
| ·开路电压Voc 的变化 | 第63页 |
| ·最大输出功率Pm 的变化 | 第63-65页 |
| ·填充因子FF 的变化 | 第65页 |
| ·低能质子辐照GaAs/Ge 电池的临界注量与相对损伤系数 | 第65-67页 |
| ·质子辐照GaAs/Ge 太阳电池电性能退化唯象学表达式 | 第67-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第4章 质子辐照对GaAs/Ge 太阳电池电性能影响机理分析 | 第71-90页 |
| ·SRIM 模拟分析 | 第71-74页 |
| ·深能级瞬态谱分析 | 第74-80页 |
| ·光谱响应分析 | 第80-83页 |
| ·光致发光光谱分析 | 第83-86页 |
| ·光学反射光谱分析 | 第86-88页 |
| ·低能质子辐照GaAs/Ge 太阳电池损伤机制分析 | 第88-89页 |
| ·本章小结 | 第89-90页 |
| 第5章 电子辐照GaAs/Ge 太阳电池性能演化表征与机理 | 第90-105页 |
| ·电子辐照对原位测试I-V 特性的影响 | 第90页 |
| ·电子辐照对GaAs/Ge 太阳电池电性能参数的影响 | 第90-94页 |
| ·短路电流的变化 | 第90页 |
| ·开路电压的变化 | 第90-93页 |
| ·最大输出功率的变化 | 第93页 |
| ·填充因子的变化 | 第93-94页 |
| ·电子辐照后GaAs/Ge 太阳电池性能室温退火效应 | 第94-96页 |
| ·低能电子辐照对GaAs/Ge 太阳电池电性能影响机理分析 | 第96-104页 |
| ·CASINO 程序模拟分析 | 第96页 |
| ·光谱响应分析 | 第96-98页 |
| ·光学反射光谱分析 | 第98-100页 |
| ·光致发光光谱分析 | 第100-102页 |
| ·深能级瞬态谱分析 | 第102页 |
| ·低能电子辐照对GaAs/Ge 太阳电池的影响机制 | 第102-104页 |
| ·本章小结 | 第104-105页 |
| 第6章 质子和电子综合辐照GaAs/Ge 太阳电池性能演化表征与机理 | 第105-121页 |
| ·综合辐照对GaAs/Ge 太阳电池I-V 曲线的影响 | 第105-110页 |
| ·先质子后电子辐照 | 第106-107页 |
| ·先电子后质子辐照 | 第107-109页 |
| ·质子和电子同时辐照 | 第109-110页 |
| ·综合辐照对GaAs/Ge 太阳电池不同电性能参数的影响 | 第110-113页 |
| ·综合辐照对GaAs/Ge 太阳电池电性能参数的影响对比 | 第113-115页 |
| ·综合辐照GaAs/Ge 太阳电池电性能退化唯象学表达式 | 第115-117页 |
| ·质子与电子综合辐照对GaAs/Ge 太阳电池损伤机理分析 | 第117-120页 |
| ·光谱响应分析 | 第117-118页 |
| ·光致发光光谱分析 | 第118页 |
| ·低能质子和电子综合辐照GaAs/Ge 太阳电池损伤机制 | 第118-120页 |
| ·本章小结 | 第120-121页 |
| 结论 | 第121-123页 |
| 参考文献 | 第123-136页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第136-139页 |
| 致谢 | 第139-140页 |
| 个人简历 | 第140页 |
