中文摘要 | 第1-5页 |
英文摘要 | 第5-10页 |
第一章 绪论 | 第10-33页 |
·无机固体材料的使用形态 | 第10-11页 |
·无机粉体材料的制备及形貌控制 | 第11-19页 |
·各类无机粉体材料对颗粒形貌的一般要求 | 第11-12页 |
·无机粉体材料的制备及粉体形貌控制 | 第12-17页 |
·粉体材料的后处理 | 第17-19页 |
·荧光材料粉体形貌的控制 | 第19-27页 |
·实际应用对荧光材料粉体形貌的要求 | 第19-20页 |
·荧光材料粉体形貌控制的一些研究结果 | 第20-27页 |
·纳米颗粒荧光材料的制备 | 第27-31页 |
·我们拟开展的研究工作 | 第31-33页 |
·我们的一些 | 第31-32页 |
·本文中我们所作的一些工作 | 第32-33页 |
第二章 样品的合成与表征 | 第33-66页 |
·试剂纯度及其规格 | 第33-34页 |
·样品的制备 | 第34-36页 |
·高温固相法 | 第34页 |
·Y_3A_(15)O_(12):Tb~(3+)荧光粉的Sol-gel制备 | 第34-35页 |
·Y_2SiO_5:Ce~(3+)荧光粉的Sol-gel制备 | 第35页 |
·无定形Y_3Al_5O_(12):RE粉体的Sol-gel制备 | 第35页 |
·Y_3Al_5O_(12):Tb~(3+)荧光粉的包 | 第35-36页 |
·样品的表征 | 第36-66页 |
·X射线粉末衍射 | 第36-37页 |
·粒度分布 | 第37-40页 |
·荧光光谱 | 第40-45页 |
·阴极射线光谱 | 第45-46页 |
·红外光谱 | 第46-50页 |
·扫描电子显微镜及元素分析 | 第50-56页 |
·透射电镜及元素分析 | 第56-60页 |
·BET的测量 | 第60-66页 |
第三章 溶胶-凝胶法制备Y_3Al_5O_(12):Tb~(3+)荧光粉颗粒生长过程的研究 | 第66-78页 |
·引言 | 第66-67页 |
·荧光粉颗粒的生长过程 | 第67-77页 |
·物相分析 | 第67页 |
·电子显微镜(SEM和TEM)下观察的Y_3Al_5O_(12):Tb~(3+)颗粒生长的过程 | 第67-69页 |
·粒度的测量 | 第69-73页 |
·BET比表面积的测量 | 第73-75页 |
·荧光性能的表征 | 第75-77页 |
·本章小结 | 第77-78页 |
第四章 溶胶-凝胶法制备无定形荧光粉1.4Y_2O_3·2.5Al_2O_3·0.1Tb_2O_3体系荧光特性的研究 | 第78-87页 |
·引言 | 第78页 |
·无定形荧光粉的性质表征 | 第78-85页 |
·分析1.4Y_2O_3·2.5Al_2O_3·0.1Tb_2O_3的物相变化 | 第78-81页 |
·发射光谱的分析 | 第81-83页 |
·激发光谱的分析 | 第83-84页 |
·焙烧温度对光致发光(PL)强度的影响 | 第84-85页 |
·本章小结 | 第85-87页 |
第五章 Y_3Al_5O_(12):Tb~(3+)颗粒氧化物的包覆 | 第87-97页 |
·引言 | 第87页 |
·试验结果与讨论 | 第87-96页 |
·分析物相变化 | 第87-88页 |
·分析包覆条件对荧光粉粒径和粒度分布的影响 | 第88-91页 |
·包覆样品的SEM和TEM的电镜观察 | 第91-93页 |
·包覆荧光粉样品的发光性能 | 第93-94页 |
·讨论 | 第94-96页 |
·本章小结 | 第96-97页 |
第六章 溶胶-凝胶法制备Y_2SiO_5:Ce~(3+)荧光粉颗粒生长过程的研究 | 第97-107页 |
·引言 | 第97页 |
·荧光粉颗粒的生长过程 | 第97-106页 |
·物相分析 | 第97-99页 |
·颗粒的元素分布 | 第99-101页 |
·Y_2SiO_5:Ce~(3+)的颗粒生长过程 | 第101-103页 |
·Y_2SiO_5:Ce~(3+)颗粒粒径及分布的测量 | 第103-105页 |
·Y_2SiO_5:Ce~(3+)样品发光性质的测量 | 第105-106页 |
·本章小结 | 第106-107页 |
第七章 结论与展望 | 第107-112页 |
·结论 | 第107-109页 |
·展望 | 第109-112页 |
参考文献 | 第112-124页 |
专利及论文发表情况 | 第124-126页 |
附录:图表索引 | 第126-130页 |
致谢 | 第130-131页 |