光电耦合器件噪声测试系统设计及其1/f噪声分析方法研究
| 提要 | 第1-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| ·研究意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9页 |
| ·全文的研究内容 | 第9-10页 |
| ·小结 | 第10-11页 |
| 第二章 低频噪声理论 | 第11-23页 |
| ·电噪声的基础知识 | 第11-13页 |
| ·随机过程 | 第11-12页 |
| ·噪声的统计特性 | 第12页 |
| ·噪声的功率谱密度 | 第12页 |
| ·噪声的相关函数 | 第12-13页 |
| ·半导体器件的噪声 | 第13-20页 |
| ·白噪声 | 第13-17页 |
| ·1/f噪声 | 第17-18页 |
| ·G-R 噪声 | 第18-19页 |
| ·爆裂噪声 | 第19-20页 |
| ·过激噪声与器件内部缺陷的关系 | 第20-21页 |
| ·1/f噪声与器件内部缺陷的关系 | 第20-21页 |
| ·G-R噪声与器件内部缺陷的关系 | 第21页 |
| ·爆裂噪声与器件内部缺陷的关系 | 第21页 |
| ·小结 | 第21-23页 |
| 第三章 独立分量分析的基本概念及理.论 | 第23-39页 |
| ·独立分量分析的发展历史 | 第23-24页 |
| ·ICA的基本概念 | 第24-26页 |
| ·鸡尾酒会问题 | 第24-26页 |
| ·ICA的定义 | 第26页 |
| ·ICA的基本理论 | 第26-35页 |
| ·最大非高斯性估计原理 | 第27-30页 |
| ·互信息最小化估计原理 | 第30-31页 |
| ·最大似然函数估计原理 | 第31-33页 |
| ·信息最大化估计原理 | 第33-35页 |
| ·主分量分析（PCA）和白化处理 | 第35-36页 |
| ·主分量分析 | 第35-36页 |
| ·白化处理 | 第36页 |
| ·ICA的典型算法 | 第36-38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 第四章 光电耦合器件低频噪声测试系统设计 | 第39-46页 |
| ·测试系统的构建 | 第39-40页 |
| ·测试电路 | 第40页 |
| ·测试系统的部分模块介绍 | 第40-43页 |
| ·通用接口总线(GPIB) | 第40-42页 |
| ·动态信号分析仪Agilent 35670A | 第42-43页 |
| ·时域处理模块 | 第43页 |
| ·测试系统的特点 | 第43-44页 |
| ·小结 | 第44-46页 |
| 第五章 1/f噪声等低频噪声的时域分析方法研究 | 第46-60页 |
| ·传统频域测量方法 | 第46-47页 |
| ·频域测量方法介绍 | 第46-47页 |
| ·频域测量方法的缺点 | 第47页 |
| ·应用ICA方法的可行性 | 第47-48页 |
| ·ICA的计算机仿真 | 第48-51页 |
| ·ICA在LabVIEW中的仿真 | 第48-50页 |
| ·仿真结果分析 | 第50-51页 |
| ·统计计算峭度值 | 第51页 |
| ·ICA对实际噪声数据的分析 | 第51-58页 |
| ·主分量分析方法作为预处理技术 | 第51页 |
| ·ICA对实际噪声数据的分析 | 第51-58页 |
| ·时域下器件可靠性的分类规则 | 第58页 |
| ·小结 | 第58-60页 |
| 第六章 测试系统的软件设计 | 第60-77页 |
| ·虚拟仪器技术与LabVIEW 软件 | 第60-61页 |
| ·虚拟仪器 | 第60页 |
| ·LabVIEW 软件 | 第60-61页 |
| ·系统的软件设计 | 第61-76页 |
| ·整体设计 | 第61-63页 |
| ·时域测量设计 | 第63-64页 |
| ·频域测量设计 | 第64-69页 |
| ·数据库操作设计 | 第69-72页 |
| ·生成报告设计 | 第72-76页 |
| ·小结 | 第76-77页 |
| 第七章 全文总结 | 第77-80页 |
| ·工作总结 | 第77-78页 |
| ·工作展望 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 摘要 | 第84-88页 |
| Abstract | 第88-93页 |
| 致谢 | 第93-94页 |
| 作者在攻读硕士期间的科研成果 | 第94-95页 |
| 导师及作者简介 | 第95页 |
