铁磁形状记忆合金Ni-Mn-Ga薄膜的制备和特性研究
摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-11页 |
第一章 引言 | 第11-26页 |
·智能材料及其应用 | 第11-13页 |
·铁磁形状记忆合金NI—MN—GA的结构及机理 | 第13-15页 |
·铁磁形状记忆合金Ni—Mn—Ga的结构 | 第13-14页 |
·Ni_2MnGa合金磁控形状记忆效应的机理 | 第14-15页 |
·NI—MN—GA块体材料的研究现状 | 第15-19页 |
·NI—MN—GA薄膜材料的研究现状 | 第19-23页 |
·NI-MN-GA薄膜的应用 | 第23-24页 |
·本文研究的目的、意义及内容 | 第24-26页 |
第二章 实验设备及分析测试技术 | 第26-36页 |
·实验设备 | 第26-31页 |
·微波ECRPSⅡ型等离子体全方位注入装置 | 第26-31页 |
·真空热处理设备 | 第31页 |
·分析测试设备及方法 | 第31-36页 |
·扫描电子显微镜(SEM) | 第31页 |
·原子力显微镜(AFM) | 第31-32页 |
·X射线衍射仪(XRD) | 第32-33页 |
·振动样品磁强计(VSM) | 第33-34页 |
·磁感生应变测量装置 | 第34-36页 |
第三章 薄膜制备技术 | 第36-43页 |
·靶材的制备 | 第36页 |
·基片的前期处理 | 第36-37页 |
·薄膜制备工艺流程 | 第37-41页 |
·薄膜制备的实验参数 | 第38-39页 |
·薄膜成分与影响因素分析 | 第39-41页 |
·膜厚测试 | 第41页 |
·薄膜生长机理 | 第41-43页 |
第四章 热处理对薄膜的影响 | 第43-55页 |
·热处理对薄膜成分的影响 | 第43-45页 |
·热处理对薄膜表面形貌的影响 | 第45-49页 |
·热处理对薄膜晶体结构的影响 | 第49-51页 |
·热处理对薄膜磁性能的影响 | 第51-52页 |
·薄膜磁致伸缩量的测量 | 第52-55页 |
第五章 结论与展望 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-61页 |
致谢 | 第61-62页 |
在读期间发表的论文 | 第62页 |