| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题的来源 | 第10-11页 |
| ·数控机床的测量系统回顾 | 第10页 |
| ·光栅测量系统成为数控机床的核心技术 | 第10-11页 |
| ·课题的研究意义 | 第11-13页 |
| ·课题的国内外发展概况 | 第13-15页 |
| ·课题的研究目标 | 第15-16页 |
| ·本文的主要工作 | 第16-17页 |
| 2 光栅测量简介及方案论证 | 第17-28页 |
| ·光栅传感器概述 | 第17页 |
| ·莫尔条纹 | 第17-19页 |
| ·测量原理 | 第19-20页 |
| ·输出信号 | 第20-21页 |
| ·信号处理电路 | 第21-26页 |
| ·由分立器件组成的处理电路 | 第22-24页 |
| ·专用集成电路与处理器组成的电路 | 第24-26页 |
| ·基于可定制微控制器的集成化设计 | 第26页 |
| ·最佳方案论证 | 第26-28页 |
| 3 SOC 系统开发技术 | 第28-37页 |
| ·可编程控制技术概述 | 第28-29页 |
| ·FPGA 的发展 | 第28-29页 |
| ·FPGA 正逐渐取代传统 ASIC 电路 | 第29页 |
| ·IP 理念是 FPGA 未来的趋势 | 第29页 |
| ·FPGA的特点 | 第29-30页 |
| ·硬件描述语言 Verilog HDL | 第30-31页 |
| ·设计流程及开发工具 | 第31-35页 |
| ·FPGA 设计中需注意的几个问题 | 第35-37页 |
| 4 系统硬件设计 | 第37-49页 |
| ·系统硬件总体设计 | 第37-38页 |
| ·核心系统设计 | 第38-46页 |
| ·核心系统芯片 Zylogic E5 | 第38-39页 |
| ·光栅检测片上系统设计 | 第39-46页 |
| ·电路抗干扰设计 | 第46-49页 |
| 5 软件设计 | 第49-57页 |
| ·软件开发环境 | 第49页 |
| ·系统头文件 | 第49-50页 |
| ·系统主程序设计 | 第50-51页 |
| ·功能子程序设计 | 第51-57页 |
| ·键盘监测子程序 | 第52-53页 |
| ·液晶显示子程序 | 第53-55页 |
| ·运算子程序 | 第55页 |
| ·通讯子程序 | 第55-57页 |
| 6 CSOC 配置下载及系统调试 | 第57-66页 |
| ·CSOC 配置下载 | 第57-59页 |
| ·使用 FastChip 的器件连接工具进行系统内调试 | 第59-62页 |
| ·调试工具 | 第59-60页 |
| ·观察与控制 | 第60-61页 |
| ·建立断点 | 第61-62页 |
| ·实验 | 第62-66页 |
| ·实验装置 | 第62-63页 |
| ·实验方法 | 第63-65页 |
| ·实验结果 | 第65-66页 |
| 7 结论 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 在学研究成果 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |