| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 1 大规模存储器概要 | 第6-17页 |
| ·大规模存储器DDR 的基本概念 | 第6-7页 |
| ·DDR 芯片特点 | 第7-11页 |
| ·DDR 测试中的问题与解决 | 第11-12页 |
| ·在读操作中同一个周期内对输入两个数据进行采样 | 第12-15页 |
| ·DDR 测试总结 | 第15-17页 |
| 2 生产测试 | 第17-27页 |
| ·生产测试分类 | 第17-18页 |
| ·标准测试流程图 | 第18-20页 |
| ·要点说明 | 第20-23页 |
| ·不断发展的存储器 | 第23页 |
| ·测试系统面临的问题 | 第23-25页 |
| ·信号完整性需要解决的问题 | 第25页 |
| ·超高速存储器测试 | 第25-27页 |
| 3 实际SDRAM 测试 | 第27-42页 |
| ·SDRAM 概述 | 第27-28页 |
| ·SDRAM 特性 | 第28-35页 |
| ·基本操作方式 | 第35-36页 |
| ·器件管脚 | 第36-39页 |
| ·器件外观 | 第39-40页 |
| ·结构框图 | 第40-42页 |
| 4 测试方法 | 第42-96页 |
| 5 总结 | 第96-97页 |
| 参考文献 | 第97-99页 |
| 发表论文 | 第99-100页 |
| 致谢 | 第100页 |