光纤参数测试及其应用研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| ·光纤通信简史 | 第9-10页 |
| ·光纤分类及光缆的敷设方式 | 第10-16页 |
| ·光纤的分类 | 第10-12页 |
| ·光纤制造 | 第12-14页 |
| ·光缆敷设方式 | 第14-16页 |
| ·光纤拉丝 | 第16-17页 |
| ·光纤参数测试 | 第17-18页 |
| ·本论文的主要工作 | 第18-19页 |
| 第二章 光纤损耗测试及其在生产和科研中的应用 | 第19-39页 |
| ·光纤的衰减基本概念 | 第19-20页 |
| ·光纤的衰减、衰减系数和衰减谱 | 第19页 |
| ·光纤的衰减产生的原因 | 第19-20页 |
| ·光纤衰减测试方法 | 第20-25页 |
| ·后向散射法工作原理 | 第21-23页 |
| ·使用OTDR 应该注意的问题 | 第23-25页 |
| ·OTDR 测量光纤的衰减纵向不均匀性 | 第25-30页 |
| ·造成衰减不均匀(台阶)的原因 | 第26-27页 |
| ·微弯损耗影响光纤的传输特性 | 第27-29页 |
| ·产生涂层外表面凸凹缺陷的原因分析 | 第29-30页 |
| ·拉丝工艺对光纤衰减的影响 | 第30-32页 |
| ·拉丝炉温度对衰减的影响 | 第30-31页 |
| ·拉丝速度对衰减的影响 | 第31页 |
| ·拉丝其他因素对衰减的影响 | 第31-32页 |
| ·新型中红外光纤损耗测试系统研究 | 第32-38页 |
| ·新型光纤损耗系统的特点 | 第32-33页 |
| ·中红外单色仪现况 | 第33页 |
| ·FT-IR 改造为光纤损耗测试系统的理论依据 | 第33-34页 |
| ·FT-IR 与单色仪工作原理及性能比较 | 第34-35页 |
| ·FT-IR 中红外光纤测试系统光路设计 | 第35-36页 |
| ·系统误差分析 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 单模光纤截止波长测试实验研究 | 第39-47页 |
| ·截止波长的基本概念 | 第39-40页 |
| ·传输功率法的基本要点 | 第40-41页 |
| ·影响单模光纤截止波长测量精度因素的分析 | 第41-46页 |
| ·光纤长度对截止波长的影响 | 第42-43页 |
| ·光纤弯曲半径对截止波长的影响 | 第43-45页 |
| ·两种参考光纤情况下测量的截止波长值的比较 | 第45页 |
| ·注入条件对截止波长测量的影响 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 保偏光纤模场直径测量技术研究 | 第47-53页 |
| ·研究保偏光纤模场直径测量的必要性 | 第47-48页 |
| ·理论推导 | 第48页 |
| ·单模光纤MFD 的方法筛选和改进 | 第48-51页 |
| ·远场扫描法 | 第48-49页 |
| ·远场可变孔径法 | 第49-50页 |
| ·远场横向位移法 | 第50-51页 |
| ·近场扫描法 | 第51页 |
| ·实验及分析 | 第51-52页 |
| ·采用可变孔径法 | 第51-52页 |
| ·采用远场扫描法 | 第52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 保偏光纤偏振串音测试 | 第53-60页 |
| ·偏振串音的测试装置 | 第53-55页 |
| ·偏振串音与消光比的区别 | 第55-56页 |
| ·光源偏振度的问题 | 第56-59页 |
| ·国外消光比测试装置的特点 | 第59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第六章 色散和偏振模色散测试 | 第60-68页 |
| ·光纤色散 | 第60-62页 |
| ·光纤传输中的传导模 | 第60页 |
| ·光纤的带宽与色散 | 第60-61页 |
| ·光纤色散特性产生的非线性失真 | 第61-62页 |
| ·色散的测量方法 | 第62页 |
| ·单模光纤偏振模色散PMD 测试 | 第62-67页 |
| ·单模光纤的偏振模色散产生机理 | 第63页 |
| ·PMD 对光通讯系统的影响 | 第63-64页 |
| ·PMD 测量方法 | 第64-66页 |
| ·单模光纤PMD 不稳定因素 | 第66-67页 |
| ·PMD 搓线机的应用 | 第67页 |
| ·零张力状态测量PMD | 第67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第七章 总结与展望 | 第68-70页 |
| ·总结 | 第68-69页 |
| ·对后续工作的展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
