电子器件噪声高阶统计分析软件及应用研究

摘要	第1-4页
Abstract	第4-7页
第一章 绪言	第7-13页
·课题来源及研究内容	第7页
·器件电噪声分析的意义	第7-10页
·高阶统计量方法概述	第10-12页
·论文研究内容及组织	第12-13页
第二章 电噪声高阶统计量分析的理论基础	第13-23页
·高阶统计量理论基础	第13-18页
·高阶累计量	第14-15页
·高阶累计量谱	第15-18页
·可应用于电噪声分析的高阶统计量	第18-21页
·高阶积分累积量估计算法与软件	第18-19页
·高阶积分累计量谱估计算法与软件	第19-21页
·统计检验量算法与软件	第21-23页
·统计检验量T~2估计软件	第21-22页
·统计检验量Z估计软件	第22-23页
第三章 电噪声应用和理论验证	第23-35页
·电噪声的功率谱恢复算法	第23-24页
·非高斯性检验	第24-32页
·检验统计量T~2值估计	第28-31页
·检验统计量T~2的理论验证	第31-32页
·爆裂噪声检测	第32-35页
·统计检验量 Z值估计算法	第34页
·检验统计量 Z的理论验证	第34-35页
第四章 高阶统计量方法实际应用	第35-45页
·电噪声高阶统计量分析系统	第35-36页
·高阶统计量方法的功率谱恢复	第36-37页
·光电耦合器件的爆裂噪声检验	第37-39页
·T~2用于电噪声非高斯性检验	第39-45页
·MOSFET抗辐照性能辅助筛选	第40-41页
·电迁移老化试验进程的非高斯性变化跟踪分析	第41-45页
第五章 总结及展望	第45-49页
结论	第45页
展望	第45-49页
参考文献	第49-53页
作者在读期间的研究成果	第53页