| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-14页 |
| ·研究背景与意义 | 第7-9页 |
| ·国内外研究现状综述 | 第9-11页 |
| ·技术路线和研究内容 | 第11-14页 |
| ·技术路线 | 第11-12页 |
| ·研究内容 | 第12-14页 |
| 第二章 T~2统计方法 | 第14-23页 |
| ·统计距离 | 第14-15页 |
| ·T~2统计方法与多元正态分布的关系 | 第15-16页 |
| ·T~2分布的特点 | 第16-18页 |
| ·T~2分布与t 分布的对应关系 | 第16-17页 |
| ·T~2分布的特点 | 第17-18页 |
| ·数据正态性的判定 | 第18-21页 |
| ·一元边缘分布的正态性判定 | 第19-20页 |
| ·二元正态性的判定 | 第20页 |
| ·多元正态性的判定 | 第20-21页 |
| ·非正态数据向正态数据的转化 | 第21-23页 |
| ·多元正态分布的性质 | 第21页 |
| ·非正态数据的转化 | 第21-23页 |
| 第三章 历史数据的收集及数据处理 | 第23-32页 |
| ·数据收集计划、模型 | 第23-24页 |
| ·数据的一致 | 第24-25页 |
| ·数据的缺失 | 第25-26页 |
| ·变量之间线性相关 | 第26-28页 |
| ·线性相关对结果的影响 | 第26-27页 |
| ·线性相关的处理方法 | 第27-28页 |
| ·自相关 | 第28-29页 |
| ·主成分分析的数据处理 | 第29-32页 |
| 第四章 历史数据的判异及控制过程的建立 | 第32-42页 |
| ·异常值的影响 | 第32-33页 |
| ·一元情况下的异常值判异 | 第33-34页 |
| ·一元控制图与T~2控制图的置信区间比较 | 第34-36页 |
| ·多元情况下的异常值判定 | 第36页 |
| ·建立历史数据过程中的T~2控制 | 第36-38页 |
| ·未知参数的T~2控制 | 第36-37页 |
| ·已知参数的T~2控制 | 第37-38页 |
| ·控制过程的建立 | 第38-42页 |
| ·确定虚发警报率α | 第38-39页 |
| ·未知参数情况下的T~2控制 | 第39-40页 |
| ·已知参数情况下的T~2控制 | 第40页 |
| ·子组均值条件下的T~2控制 | 第40-41页 |
| ·平均运行长度（Average Run Length）与α和β的关系 | 第41-42页 |
| 第五章 过程能力指数的计算 | 第42-52页 |
| ·一元过程能力指数 | 第42-45页 |
| ·过程能力指数与不合格品率的关系 | 第45-47页 |
| ·无偏移情况下，C_p与不合格品率p 的关系 | 第45-46页 |
| ·有偏移的情况下，C_(pk)与不合格品率p 之间的关系 | 第46-47页 |
| ·多元过程能力指数 | 第47-52页 |
| ·多元过程能力指数的一些定义 | 第47-49页 |
| ·多元过程能力指数的一种算法 | 第49-52页 |
| 第六章 案例研究 | 第52-60页 |
| ·多元过程能力指数评价过程模型 | 第52-53页 |
| ·案例研究 | 第53-59页 |
| ·案例简介 | 第53页 |
| ·建立历史数据 | 第53-55页 |
| ·稳态的判定 | 第55-57页 |
| ·过程能力指数的计算 | 第57-59页 |
| ·案例结论 | 第59-60页 |
| 结束语 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第65-66页 |
| 发表论文: | 第65页 |
| 参加科研项目: | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66页 |