| 第一章 光学显微镜及其在铁谱技术中的应用 | 第1-17页 |
| 1．1 光学显微镜的产生与应用 | 第8-9页 |
| 1．1．1 光学显微镜的产生 | 第8页 |
| 1．1．2 光学显微镜的应用范围 | 第8-9页 |
| 1．2 显微技术的发展 | 第9-13页 |
| 1．2．1 电子显微镜的产生 | 第9-10页 |
| 1．2．2 以扫描隧道显微镜为代表的显微技术 | 第10-11页 |
| 1．2．3 其他新型光学显微技术 | 第11-13页 |
| 1．3 光学显微镜在DMAS智能化铁谱分析系统中的应用 | 第13-14页 |
| 1．3．1 DMAS智能化铁谱分析系统简介 | 第13-14页 |
| 1．3．2 光学显微镜在DMAS智能化铁谱分析系统中的应用 | 第14页 |
| 1．3．3 光学显微镜的三维测量方法及存在的问题 | 第14页 |
| 1．4 本文的研究背景、内容及方法 | 第14-15页 |
| 1．4．1 本文的研究背景和内容 | 第14-15页 |
| 1．4．2 本文的研究价值和思路方法 | 第15页 |
| 1．5 本文内容及章节安排 | 第15-17页 |
| 第二章 显微光学特性及调光算法研究 | 第17-25页 |
| 2．1 引言 | 第17-18页 |
| 2．1．1 光学显微镜透镜成像的几何光学原理 | 第17页 |
| 2．1．2 光学显微镜的照明系统 | 第17-18页 |
| 2．1．3 光学显微镜中光源引起的问题 | 第18页 |
| 2．2 显微镜的光学特性研究 | 第18-22页 |
| 2．2．1 彩色工业CCD摄像头 | 第18-19页 |
| 2．2．2 显微调光目标函数及其特性 | 第19-20页 |
| 2．2．3 显微调光目标函数的确定 | 第20-22页 |
| 2．3 调光目标函数与控制算法 | 第22-24页 |
| 2．3．1 调光目标函数的规律研究 | 第22页 |
| 2．3．2 显微调光控制算法研究 | 第22-24页 |
| 2．4 总结 | 第24-25页 |
| 第三章 自动调光系统设计 | 第25-42页 |
| 3．1 自动调光系统总体设计 | 第25-27页 |
| 3．1．1 自动调光系统的原理和组成 | 第25-26页 |
| 3．1．2 自动调光系统的软硬件实现 | 第26-27页 |
| 3．2 光源的控制系统 | 第27-29页 |
| 3．2．1 光源控制电路 | 第27-28页 |
| 3．2．2 USB接口通信硬件电路 | 第28-29页 |
| 3．3 自动调光系统的USB接口技术实现 | 第29-33页 |
| 3．3．1 USB接口的特点和应用 | 第29页 |
| 3．3．2 USB接口通信协议简介 | 第29-31页 |
| 3．3．3 USB通信接口芯片 | 第31页 |
| 3．3．4 USBN9604设备系统层次结构 | 第31-33页 |
| 3．4 USB设备固件开发 | 第33-37页 |
| 3．4．1 微处理器主程序的流程图 | 第33页 |
| 3．4．2 USB设备描述及寄存器操作 | 第33-37页 |
| 3．5 USB设备驱动开发 | 第37-40页 |
| 3．5．1 WDM模型分析 | 第37-39页 |
| 3．5．2 驱动程序栈中IRP包的处理 | 第39-40页 |
| 3．5．3 USB设备驱动程序的开发工具及开发环境 | 第40页 |
| 3．6 显微调光控制效果分析 | 第40-42页 |
| 第四章 显微目标图像融合方法研究 | 第42-67页 |
| 4．1 引言 | 第42-45页 |
| 4．1．1 光学显微镜在三维观测中存在的问题 | 第42-44页 |
| 4．1．2 磨粒的产生、分类及形态特征 | 第44-45页 |
| 4．2 磨粒三维分析测量目的、方法及其存在的问题 | 第45-46页 |
| 4．2．1 磨粒的三维分析测量的目的 | 第45页 |
| 4．2．2 磨粒三维分析测量方法及其存在的问题 | 第45-46页 |
| 4．3 图像融合技术的国内外状况及空域、频域的研究方法 | 第46-48页 |
| 4．3．1 图像融合技术理论及国内外状况 | 第46-47页 |
| 4．3．2 图像融合的空域和频域研究方法 | 第47-48页 |
| 4．4 空域内基于视觉特性对比度方差的图像融合技术研究 | 第48-56页 |
| 4．4．1 在空域内的多聚焦磨粒图像的融合算法 | 第48-49页 |
| 4．4．2 磨粒显微图像序列空域内信息融合算例 | 第49-55页 |
| 4．4．3 图像融合对磨粒的图像分割和提取效果的改善 | 第55-56页 |
| 4．5 基于小波变换的图像融合技术研究 | 第56-65页 |
| 4．5．1 小波变换及多分辨分析 | 第57-59页 |
| 4．5．2 Mallat算法 | 第59-60页 |
| 4．5．3 小波变换中边界问题的处理 | 第60页 |
| 4．5．4 二维离散小波变换后的系数分布 | 第60-62页 |
| 4．5．5 基于小波变换的磨粒图像融合及算法实现 | 第62-63页 |
| 4．5．6 基于小波变换的磨粒图像融合算例 | 第63-65页 |
| 4．5．7 基于小波变换的多尺度融合的物理意义 | 第65页 |
| 4．6 总结 | 第65-67页 |
| 第五章 磨粒三维分析测量系统与测量方法 | 第67-75页 |
| 5．1 磨损颗粒的形态学分析 | 第67页 |
| 5．2 基于图像融合方法的三维分析测量系统 | 第67-69页 |
| 5．2．1 三维分析测量系统的硬件构成 | 第67-68页 |
| 5．2．2 三维分析测量系统的软件构成 | 第68页 |
| 5．2．3 三维分析测量系统原理与工作流程 | 第68-69页 |
| 5．3 基于图像融合方法的深度信息与三维分析测量 | 第69-71页 |
| 5．3．1 磨粒深度信息表示 | 第69-70页 |
| 5．3．2 磨粒三维测量参数 | 第70页 |
| 5．3．3 磨粒三维测量参数实验分析 | 第70-71页 |
| 5．4 磨粒三维分析测量技术的误差分析 | 第71-72页 |
| 5．4．1 三维分析的误差来源与分类 | 第71-72页 |
| 5．4．2 三维分析系统误差的特点及削弱 | 第72页 |
| 5．5 磨粒的三维形态参数 | 第72-74页 |
| 5．5．1 磨粒三维形态表示 | 第72-73页 |
| 5．5．2 典型磨粒三维形态参数计算和识别分析 | 第73-74页 |
| 5．6 总结 | 第74-75页 |
| 第六章 显微目标实时分析系统 | 第75-81页 |
| 6．1 引言 | 第75页 |
| 6．2 显微目标实时分析系统的总体设计 | 第75-76页 |
| 6．2．1 显微目标实时分析系统的系统原理 | 第75-76页 |
| 6．2．2 显微实时分析的流体颗粒和图像获取系统 | 第76页 |
| 6．3 显微目标实时分析系统中的关键技术 | 第76-80页 |
| 6．3．1 显微目标实时分析系统的流体通道和流场的设计 | 第76-78页 |
| 6．3．2 显微目标实时分析系统的光路和CCD光学成像系统设计 | 第78页 |
| 6．3．3 显微目标实时分析系统的高速图像采集系统设计 | 第78-80页 |
| 6．4 显微目标实时分析系统的发展前景和应用 | 第80页 |
| 6．5 总结 | 第80-81页 |
| 结论与展望 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 在学期间发表的论文 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-86页 |
