| 中文摘要 | 第1-7页 |
| 英文摘要 | 第7-14页 |
| 1 绪论 | 第14-25页 |
| ·课题的背景及意义 | 第14-15页 |
| ·本课题的发展概况 | 第15-23页 |
| ·国内外局部放电检测技术的研究现状 | 第15-18页 |
| ·电晕检测技术的研究现状 | 第18-21页 |
| ·紫外探测器的研究现状 | 第21-23页 |
| ·本文主要的研究工作与创新点 | 第23-25页 |
| ·本文主要的研究工作 | 第23-24页 |
| ·本文主要创新点 | 第24-25页 |
| 2 气体放电理论与特性 | 第25-40页 |
| ·气体放电基本理论 | 第25-31页 |
| ·汤生电子崩理论 | 第25-26页 |
| ·汤生电离系数的推导 | 第26-28页 |
| ·汤生自持放电判据 | 第28-29页 |
| ·流注理论 | 第29-30页 |
| ·不均匀电场的击穿判据 | 第30-31页 |
| ·气体放电的一般特性 | 第31-34页 |
| ·电晕放电 | 第31-32页 |
| ·放电模型 | 第32-34页 |
| ·起晕电压 | 第34页 |
| ·电晕放电影响因素 | 第34-35页 |
| ·温度、气压对电晕放电的影响 | 第34-35页 |
| ·空气湿度对电晕放电的影响 | 第35页 |
| ·气体放电光辐射的光谱分析 | 第35-38页 |
| ·气体放电光辐射功率与放电功率的关系 | 第38-39页 |
| ·小结 | 第39-40页 |
| 3 紫外辐射的基本传播原理与光学计量 | 第40-51页 |
| ·电磁波谱与光辐射 | 第40-41页 |
| ·电磁波的性质与电磁波谱 | 第40页 |
| ·光辐射 | 第40-41页 |
| ·光辐射测量的基本定律 | 第41-44页 |
| ·紫外测量三种模式辐照度计算 | 第44-49页 |
| ·放射源视为点源 | 第44-46页 |
| ·放射源视为线源 | 第46-47页 |
| ·放射源视为面源 | 第47-49页 |
| ·紫外辐射测量方法 | 第49-50页 |
| ·紫外脉冲法 | 第49页 |
| ·紫外光功率法 | 第49-50页 |
| ·小结 | 第50-51页 |
| 4 紫外辐射测量技术和装置研究 | 第51-73页 |
| ·日盲区紫外检测与传感器 | 第51-56页 |
| ·日盲区概念 | 第51-52页 |
| ·传感器介绍 | 第52-56页 |
| ·脉冲测量原理和装置研究 | 第56-60页 |
| ·总体设计框图 | 第57页 |
| ·传感器驱动电路和电源 | 第57-58页 |
| ·信号预处理和处理 | 第58-59页 |
| ·处理器、数据存储和液晶显示模块 | 第59页 |
| ·温湿度模块 | 第59-60页 |
| ·紫外光功率测量原理和装置研究 | 第60-70页 |
| ·总体设计框图 | 第60-61页 |
| ·传感器部分 | 第61-65页 |
| ·电源模块 | 第65-67页 |
| ·信号处理电路 | 第67-70页 |
| ·仪器测量值与辐射强度的数值关系 | 第70-72页 |
| ·小结 | 第72-73页 |
| 5 高压设备放电紫外特征量的提取及故障检测研究 | 第73-98页 |
| ·放电强度变异性的时域与频域分析方法 | 第73-79页 |
| ·放电强度变异性 | 第73-74页 |
| ·放电强度变异性时域分析方法 | 第74-76页 |
| ·放电强度变异性频域分析方法 | 第76-79页 |
| ·时域分析法在高压验电中紫外特征提取与应用研究 | 第79-85页 |
| ·设备带电状态的DIR 特征量分析 | 第79页 |
| ·带电设备紫外辐射状态 | 第79-80页 |
| ·UHVES-I 型紫外验电仪 | 第80-81页 |
| ·试验与结果分析 | 第81-85页 |
| ·时域分析法在劣化绝缘子紫外检测中的应用研究 | 第85-89页 |
| ·绝缘子劣化紫外辐射特征量的分析 | 第85-86页 |
| ·绝缘子劣化紫外辐射检测 | 第86-87页 |
| ·检测试验及结果分析 | 第87-88页 |
| ·试验结论 | 第88-89页 |
| ·AR 模型功率谱估计在污秽绝缘子的应用研究 | 第89-96页 |
| ·污秽绝缘子检测系统 | 第89-90页 |
| ·污秽绝缘子放电AR 模型的建立 | 第90-91页 |
| ·污秽绝缘子放电AR 模型功率谱估计 | 第91-96页 |
| ·谱分析结论与分析 | 第96页 |
| ·小结 | 第96-98页 |
| 6 电场强度与紫外辐射场的关系分析 | 第98-120页 |
| ·放电设备沿面电场仿真分析与紫外辐射功率密度分布 | 第98-107页 |
| ·有限元法在静电场求解的原理 | 第98-99页 |
| ·设备沿面电场与紫外辐射的数值关系推导 | 第99-102页 |
| ·放电模型电场仿真 | 第102-105页 |
| ·由电场分布获得光辐射场分布 | 第105-107页 |
| ·设备附近场强与紫外辐射的关系推导 | 第107-109页 |
| ·紫外辐射强度与电场强度相关性试验验证 | 第109-119页 |
| ·试验方法及环境介绍 | 第109-110页 |
| ·电场强度的测量 | 第110-113页 |
| ·紫外辐射功率测量与数据分析 | 第113-118页 |
| ·试验结论 | 第118-119页 |
| ·小结 | 第119-120页 |
| 7 基于模糊集理论与紫外法的设备绝缘状况评估方法 | 第120-139页 |
| ·模糊集理论的引出 | 第120-121页 |
| ·模型建立 | 第121-127页 |
| ·数据分析 | 第121页 |
| ·P 与J 之间的关系 | 第121-122页 |
| ·P 与T 之间的关系 | 第122-123页 |
| ·T 与J 之间的关系 | 第123-124页 |
| ·P 与H 之间的关系 | 第124-126页 |
| ·H 与J 之间的关系 | 第126-127页 |
| ·隶属度函数的求取 | 第127-133页 |
| ·P 的隶属度函数的求取 | 第127-130页 |
| ·H 的隶属度函数的求取 | 第130-131页 |
| ·T 的隶属度函数的求取 | 第131-132页 |
| ·J 的隶属度函数的求取 | 第132-133页 |
| ·模糊推理规则 | 第133-134页 |
| ·模型的测试 | 第134-137页 |
| ·现场数据检验与分析 | 第137-138页 |
| ·小结 | 第138-139页 |
| 8 结论与展望 | 第139-142页 |
| ·结论 | 第139-141页 |
| ·论文工作的下一步研究目标 | 第141-142页 |
| 致谢 | 第142-143页 |
| 参考文献 | 第143-149页 |
| 附录 | 第149-152页 |
| A. 作者在攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第149-150页 |
| B. 作者在攻读博士学位期间参与的科研项目及获奖情况 | 第150-152页 |