界面物理量连续分布下的瑞利—泰勒不稳定性研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-17页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·ICF内爆压缩及中心点火 | 第10-12页 |
| ·瑞利─泰勒不稳定性基本概念 | 第12-13页 |
| ·瑞利─泰勒不稳定性研究方法 | 第13-15页 |
| ·本文目的内容和意义 | 第15-17页 |
| 2 间断界面不稳定性的一些方法和结论 | 第17-33页 |
| ·接触间断与经典界面不稳定性 | 第17-25页 |
| ·接触间断连接条件 | 第17-18页 |
| ·扰动展开方法 | 第18-20页 |
| ·间断界面RT及KH综合不稳定性的精确解 | 第20-25页 |
| ·法向间断与改进的质量烧蚀模型 | 第25-31页 |
| ·法向间断的一般连接条件 | 第25-26页 |
| ·改进的质量烧蚀模型 | 第26-27页 |
| ·烧蚀界面的扰动增长率 | 第27-30页 |
| ·烧蚀界面的扰动分布 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-33页 |
| 3 连续分布下的流体力学不稳定性本征值问题 | 第33-39页 |
| ·一维定态分析 | 第33-37页 |
| ·定态基础上的扰动分析 | 第37-39页 |
| 4 瑞利─泰勒不稳定性线性增长的密度梯度致稳 | 第39-51页 |
| ·增长率泛函 | 第39-40页 |
| ·变分问题的近似解 | 第40-43页 |
| ·有限元算法 | 第43-44页 |
| ·不同密度分布的增长率和扰动分布 | 第44-50页 |
| ·连续密度分布的一个例子 | 第44-47页 |
| ·扰动分布与初值的关系 | 第47-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 5 连续分布界面的开尔文─亥姆霍兹不稳定性 | 第51-63页 |
| ·含密度梯度的近似增长率公式 | 第51-53页 |
| ·近似公式与数值模拟结果的比较 | 第53-54页 |
| ·求解二阶齐次常微分方程的差分方法 | 第54-58页 |
| ·差分格式与本征方程组 | 第55-56页 |
| ·求本征值的迭代法 | 第56-57页 |
| ·求本征值的搜索法 | 第57-58页 |
| ·数值解和解析解的对比 | 第58-61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 6 可压缩流体瑞利─泰勒不稳定性 | 第63-79页 |
| ·可压RT的标准本征方程 | 第64-65页 |
| ·可压RT本征问题的变分原理 | 第65-67页 |
| ·可压RT本征问题的近似解 | 第67-73页 |
| ·可压RT本征问题的合适模型 | 第68-69页 |
| ·近似本征函数及常声速条件下的色散关系 | 第69-71页 |
| ·声速缓变情况下的近似色散关系 | 第71-72页 |
| ·不可压缩极限下的色散关系 | 第72-73页 |
| ·可压RT增长率解析解与数值解的比较 | 第73-76页 |
| ·本章小结 | 第76-79页 |
| 总结与展望 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
