一种临界导通模式功率因数校正电路设计
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章绪论 | 第7-11页 |
·论文研究方向 | 第7-9页 |
·论文的主要工作与创新 | 第9-10页 |
·论文的章节安排 | 第10-11页 |
第二章功率因数校正(PFC)设计基础 | 第11-25页 |
·功率因数校正的基本理论 | 第11-13页 |
·功率因数的定义 | 第11-12页 |
·功率因数校正 | 第12-13页 |
·功率因数校正技术控制方法分析 | 第13-16页 |
·无源功率因数校正(PPFC) | 第14-15页 |
·有源功率因数校正(APFC) | 第15-16页 |
·有源功率因数校正的实现方法 | 第16-25页 |
·有源功率因数校正电路拓扑结构 | 第17页 |
·临界导通模式下的峰值电流控制技术 | 第17-19页 |
·升压型峰值电流模稳态分析[23] | 第19-25页 |
第三章 FT8201芯片系统方案与模块设计 | 第25-51页 |
·FT8201 系统设计方案 | 第25-28页 |
·芯片的功能设计要求 | 第25-26页 |
·系统框图及工作原理 | 第26-28页 |
·FT8201 主要电路模块设计 | 第28-51页 |
·欠压锁定模块 | 第28-29页 |
·基准电压产生电路模块 | 第29-34页 |
·误差放大器电路模块 | 第34-38页 |
·乘法器电路模块 | 第38-40页 |
·零电流检测电路模块 | 第40-43页 |
·峰值电流比较器模块 | 第43-44页 |
·保护电路模块 | 第44-46页 |
·逻辑控制电路模块 | 第46-49页 |
·输出驱动电路模块 | 第49-51页 |
第四章 FT8201芯片典型应用及整体仿真 | 第51-57页 |
·芯片典型应用 | 第51-52页 |
·芯片整体仿真结果 | 第52-57页 |
·整体功能仿真验证 | 第52-54页 |
·整体性能指标 | 第54-57页 |
结束语 | 第57-58页 |
致谢 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-62页 |
研究成果 | 第62-63页 |