摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-10页 |
1 绪论 | 第10-17页 |
·研究目的及意义 | 第10-11页 |
·国内外研究现状 | 第11-15页 |
·虚拟试验技术的产生背景 | 第11页 |
·虚拟 CT 系统研究现状 | 第11-13页 |
·虚拟 CT 成像过程仿真算法研究现状 | 第13-15页 |
·课题来源 | 第15页 |
·论文研究内容 | 第15-17页 |
2 CT 成像与仿真原理 | 第17-27页 |
·X 射线与物质的相互作用 | 第17-21页 |
·X 射线的衰减规律 | 第21-23页 |
·平方反比定律 | 第21页 |
·单色射线的衰减规律 | 第21-22页 |
·多色射线的衰减规律 | 第22-23页 |
·CT 成像原理 | 第23-24页 |
·CT 成像计算机仿真 | 第24-26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
3 虚拟 CT 系统 X 射线产生过程仿真 | 第27-39页 |
·X 射线的本质 | 第27-31页 |
·X 射线的产生 | 第27-28页 |
·X 射线光谱 | 第28-30页 |
·X 射线强度 | 第30-31页 |
·X 射线谱分布模型建立 | 第31-36页 |
·微分截面及微分强度 | 第32-33页 |
·连续 X 射线微分截面 | 第33-35页 |
·特征 X射线微分截面 | 第35-36页 |
·X 射线谱计算机仿真 | 第36-37页 |
·仿真实验结果与分析 | 第37-38页 |
·本章小结 | 第38-39页 |
4 虚拟 CT 系统投影过程仿真 | 第39-62页 |
·投影仿真模型假设 | 第39-40页 |
·投影仿真的关键技术 | 第40-47页 |
·X 射线连续谱的量子解释 | 第40页 |
·连续 X 射线谱抽样技术 | 第40-44页 |
·抽样技术分析 | 第41页 |
·自适应辛普生积分 | 第41-43页 |
·基于自适应辛普生积分的能谱自适应积分技术 | 第43-44页 |
·材料衰减系数与射线管电压的关系 | 第44-47页 |
·仿真算法模型建立 | 第47-55页 |
·基本仿真模型的建立 | 第47-49页 |
·平方反比定律对投影的影响 | 第49页 |
·焦点尺寸对投影的影响 | 第49-50页 |
·仿真模型改进 | 第50-53页 |
·仿真算法流程 | 第53-55页 |
·实验结果与分析 | 第55-61页 |
·投影过程的机械参数 | 第55页 |
·X 射线参数 | 第55页 |
·仿真实验分析 | 第55-58页 |
·实际实验对比分析 | 第58-60页 |
·复杂工件仿真 | 第60-61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
5 虚拟 CT 系统散射过程仿真 | 第62-81页 |
·散射基本理论 | 第62-65页 |
·散射对 X 射线图像的影响 | 第65-67页 |
·独立分量分析理论 | 第67-69页 |
·散射退化模型构造 | 第69-73页 |
·散射过程的数学描述 | 第69-70页 |
·退化函数的构造 | 第70-71页 |
·参数确定 | 第71-73页 |
·基于ICA 图像融合的虚拟CT 系统散射仿真算法 | 第73-77页 |
·算法基本思想 | 第73-74页 |
·算法实现 | 第74-76页 |
·算法流程图 | 第76-77页 |
·实验结果与分析 | 第77-79页 |
·仿真实验分析 | 第77-78页 |
·实际实验对比分析 | 第78-79页 |
·本章小结 | 第79-81页 |
6 结束语 | 第81-83页 |
·论文工作总结 | 第81-82页 |
·论文创新点 | 第82页 |
·展望 | 第82-83页 |
参考文献 | 第83-89页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及研究成果 | 第89-90页 |
致谢 | 第90页 |