| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| ·课题研究的目的意义 | 第10-11页 |
| ·线材直径测量的发展现状 | 第11-16页 |
| ·接触式测量发展现状 | 第11-12页 |
| ·非接触式测量发展现状 | 第12-16页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第16-18页 |
| 第2章 激光衍射测量原理及方案设计 | 第18-30页 |
| ·光学衍射测径原理 | 第18-22页 |
| ·衍射理论及分类 | 第18-19页 |
| ·衍射法测量细线直径的原理 | 第19-22页 |
| ·细线直径测量的方案设计 | 第22-29页 |
| ·光源的选择 | 第23-25页 |
| ·扩束准直系统 | 第25-26页 |
| ·傅里叶透镜 | 第26页 |
| ·CCD 光电转换 | 第26-28页 |
| ·信号的处理模块 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 细线衍射图样的分析及处理 | 第30-59页 |
| ·细线衍射图样的分析 | 第30-42页 |
| ·理想衍射信号及其频谱 | 第30-33页 |
| ·实际衍射信号波形及频谱 | 第33-35页 |
| ·衍射信号噪声分析 | 第35-42页 |
| ·细线衍射图样的处理 | 第42-48页 |
| ·数字滤波器的选择 | 第42-43页 |
| ·FIR 滤波器的软件设计 | 第43-47页 |
| ·暗条纹间距的提取 | 第47-48页 |
| ·衍射图样处理的FPGA 实现 | 第48-58页 |
| ·FPGA 及开发工具 | 第48-50页 |
| ·FPGA 内部总体方案设计 | 第50-51页 |
| ·FIR 滤波器的硬件实现 | 第51-57页 |
| ·暗条纹提取算法的硬件实现 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第4章 实验验证与误差分析 | 第59-66页 |
| ·SignalTap II 简介 | 第59-60页 |
| ·不同技术指标下FIR 滤波效果的实验验证 | 第60-64页 |
| ·延时单元的实验验证 | 第60-61页 |
| ·通带纹波为3dB、阻带衰减为20dB 下的滤波结果 | 第61-62页 |
| ·通带纹波为1dB、阻带衰减为40dB 下的滤波结果 | 第62-64页 |
| ·暗条纹提取模块的验证 | 第64页 |
| ·误差分析 | 第64-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 结论 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 致谢 | 第71页 |