作者简历 | 第6-9页 |
摘要 | 第9-11页 |
abstract | 第11-13页 |
第一章 绪论 | 第17-41页 |
1.1 固体样品微区分析技术进展 | 第17-23页 |
1.1.1 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法 | 第18-19页 |
1.1.2 X射线荧光光谱法 | 第19-21页 |
1.1.3 辉光放电技术 | 第21-22页 |
1.1.4 二次离子质谱法 | 第22-23页 |
1.2 介质阻挡放电研究现状 | 第23-33页 |
1.2.1 介质阻挡放电的放电结构类型 | 第25-28页 |
1.2.2 介质阻挡放电的电源类型 | 第28-30页 |
1.2.3 介质阻挡放电的特性 | 第30-33页 |
1.3 介质阻挡放电在分析科学领域的应用研究 | 第33-38页 |
1.3.1 介质阻挡放电原子化器 | 第33-34页 |
1.3.2 介质阻挡放电诱导化学蒸气发生 | 第34-36页 |
1.3.3 介质阻挡放电应用于固体样品处理与物质检测 | 第36-38页 |
1.4 立题思想及研究内容 | 第38-41页 |
第二章 介质阻挡放电固体样品微区分析装置的研制 | 第41-69页 |
2.1 前言 | 第41-42页 |
2.2 介质阻挡放电探针系统 | 第42-54页 |
2.2.1 放电结构 | 第42-44页 |
2.2.2 DBD探针介质材质 | 第44-46页 |
2.2.3 电极材质 | 第46-47页 |
2.2.4 电极间距 | 第47-48页 |
2.2.5 放电电源 | 第48-52页 |
2.2.6 DBD探针支架 | 第52-54页 |
2.3 样品池 | 第54-57页 |
2.3.1 样品池材质 | 第55页 |
2.3.2 样品池结构设计 | 第55-57页 |
2.4 电驱动移动平台系统 | 第57-58页 |
2.5 传输系统 | 第58-60页 |
2.6 控制系统 | 第60-66页 |
2.6.1 样品分析起始点控制 | 第60-61页 |
2.6.2 微区扫描分析控制 | 第61-66页 |
2.7 装置的整体改进 | 第66-68页 |
2.8 本章小结 | 第68-69页 |
第三章 DBD固体样品微区分析条件优化及特性表征 | 第69-87页 |
3.1 前言 | 第69页 |
3.2 实验部分 | 第69-70页 |
3.2.1 仪器设备 | 第69-70页 |
3.2.2 试剂耗材 | 第70页 |
3.3 DBD微等离子体特性 | 第70-77页 |
3.3.1 不同气体DBD微等离子体光谱特性 | 第70-74页 |
3.3.2 气体流速的影响 | 第74-76页 |
3.3.3 DBD探针内径的影响 | 第76页 |
3.3.4 采样距离和采样时间对剥蚀坑的影响 | 第76-77页 |
3.4 DBD固体样品微区分析装置分析性能研究 | 第77-85页 |
3.4.1 定量分析能力 | 第78-79页 |
3.4.2 深度分析能力 | 第79-82页 |
3.4.3 成像分析能力 | 第82-85页 |
3.5 本章小结 | 第85-87页 |
第四章 DBD微区分析技术在印章印迹、陶瓷釉元素成像分析的应用 | 第87-101页 |
4.1 前言 | 第87-88页 |
4.2 实验部分 | 第88-89页 |
4.2.1 实验设备 | 第88页 |
4.2.2 样品制备 | 第88-89页 |
4.3 DBD微区分析技术在印章印迹元素成像分析的应用 | 第89-94页 |
4.3.1 纸张类型的影响 | 第89-90页 |
4.3.2 参数优化 | 第90-93页 |
4.3.3 宣纸印章印迹元素成像分析 | 第93-94页 |
4.4 DBD微区分析技术在陶瓷釉元素成像分析的应用 | 第94-99页 |
4.4.1 参数优化 | 第95-96页 |
4.4.2 不同剥蚀位置的影响 | 第96-97页 |
4.4.3 DBD微等离子体对陶瓷铅釉的剥蚀损伤 | 第97页 |
4.4.4 扫描速度对成像质量的影响 | 第97-98页 |
4.4.5 陶瓷铅釉元素成像分析 | 第98-99页 |
4.5 本章小结 | 第99-101页 |
第五章 DBD微区分析技术在叠层石元素成像分析的应用 | 第101-110页 |
5.1 前言 | 第101-102页 |
5.2 实验部分 | 第102-103页 |
5.2.1 仪器设备 | 第102-103页 |
5.2.2 样品制备 | 第103页 |
5.3 结果与讨论 | 第103-108页 |
5.3.1 DBD微等离子体的剥蚀重现性 | 第103-105页 |
5.3.2 DBD-ICP-MS 联用系统的参数优化 | 第105-106页 |
5.3.3 DBD-ICP-MS 联用技术对叠层石样品的成像分析 | 第106-107页 |
5.3.4 叠层石样品元素成像分析的分辨率 | 第107-108页 |
5.4 本章小结 | 第108-110页 |
第六章 结论和展望 | 第110-112页 |
致谢 | 第112-113页 |
参考文献 | 第113-133页 |