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基于自蔓延反应连接的Cu-Cu低温键合技术研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
1 绪论第10-30页
    1.1 研究的背景和意义第10-13页
    1.2 Cu凸点低温键合工艺的研究现状第13-21页
    1.3 自蔓延局部加热连接工艺研究现状第21-26页
    1.4 Cu-Cu低温键合存在的问题第26-27页
    1.5 研究目标及内容第27-30页
2 基于单层Sn焊料的Cu-Cu自蔓延反应键合第30-55页
    2.1 试验材料及方案第30-35页
    2.2 Sn镀层厚度对Cu-Cu自蔓延反应键合工艺的影响第35-53页
    2.3 本章小结第53-55页
3 基于交替多层薄膜焊料的Cu-Cu自蔓延反应键合第55-73页
    3.1 试验材料及方案第56-60页
    3.2 基于Sn-Cu多层结构的Cu-Cu自蔓延反应键合研究第60-66页
    3.3 基于Sn-Ni多层结构的Cu-Cu自蔓延反应键合研究第66-72页
    3.4 本章小结第72-73页
4 基于加热引燃的高密度Cu凸点阵列的自蔓延反应键合第73-88页
    4.1 试验材料及方案第73-78页
    4.2 NF40 Al/Ni纳米箔的热性能研究第78-80页
    4.3 基于Sn-Ni多层薄膜的Cu凸点阵列的自蔓延反应键合研究第80-86页
    4.4 本章小结第86-88页
5 全文总结与展望第88-92页
    5.1 全文总结第88-90页
    5.2 创新之处第90页
    5.3 下一步工作展望第90-92页
致谢第92-94页
参考文献第94-105页
附录1 攻读博士期间发表的相关论文第105-106页
附录2 攻读博士期间发表的专利目录第106-107页
附录3 博士生期间参与的课题研究情况第107页

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