摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
1 绪论 | 第9-18页 |
1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
1.2 纳米复合含能材料的研究现状 | 第10-16页 |
1.2.1 纳米复合含能材料的制备方法 | 第10-15页 |
1.2.2 纳米复合含能材料的结构表征与性能测试 | 第15-16页 |
1.3 本文主要研究内容 | 第16-18页 |
2 RDX/Al/SiO_2纳米复合含能材料的制备及性能测试 | 第18-32页 |
2.1 引言 | 第18页 |
2.2 实验 | 第18-21页 |
2.2.1 实验原料 | 第18页 |
2.2.2 仪器与设备 | 第18-19页 |
2.2.3 样品制备 | 第19-21页 |
2.3 样品的结构表征 | 第21-26页 |
2.3.1 扫描电镜(SEM)分析 | 第21-22页 |
2.3.2 透射电镜(TEM)分析 | 第22-23页 |
2.3.3 X-射线晶体衍射(XRD)分析 | 第23-25页 |
2.3.4 能谱分析(EDS) | 第25-26页 |
2.4 样品的性能测试 | 第26-31页 |
2.4.1 热失重分析(TG) | 第26-28页 |
2.4.2 差示扫描量热(DSC)分析 | 第28-29页 |
2.4.3 撞击感度及摩擦感度测试 | 第29-31页 |
2.5 本章小结 | 第31-32页 |
3 RDX/CuO/SiO_2纳米复合含能材料的制备及性能测试 | 第32-44页 |
3.1 引言 | 第32页 |
3.2 实验 | 第32-34页 |
3.2.1 实验原料 | 第32页 |
3.2.2 仪器与实验条件 | 第32-33页 |
3.2.3 样品制备 | 第33-34页 |
3.3 样品的结构表征 | 第34-38页 |
3.3.1 扫描电镜(SEM)分析 | 第34-35页 |
3.3.2 透射电镜(TEM)分析 | 第35-36页 |
3.3.3 X-射线晶体衍射(XRD)分析 | 第36-37页 |
3.3.4 能谱分析(EDS) | 第37-38页 |
3.4 样品的性能测试 | 第38-42页 |
3.4.1 热失重分析(TG) | 第38-39页 |
3.4.2 差示扫描量热(DSC)分析 | 第39-41页 |
3.4.3 撞击感度及摩擦感度测试 | 第41-42页 |
3.5 本章小结 | 第42-44页 |
4 RDX/Al/NC纳米复合含能材料的制备及性能测试 | 第44-55页 |
4.1 引言 | 第44页 |
4.2 实验 | 第44-46页 |
4.2.1 实验原料 | 第44页 |
4.2.2 仪器与实验条件 | 第44-45页 |
4.2.3 样品制备 | 第45-46页 |
4.3 样品的结构表征 | 第46-50页 |
4.3.1 扫描电镜(SEM)分析 | 第46-47页 |
4.3.2 透射电镜(TEM)分析 | 第47-48页 |
4.3.3 X-射线晶体衍射(XRD)分析 | 第48-49页 |
4.3.4 能谱分析(EDS) | 第49-50页 |
4.4 样品的性能测试 | 第50-53页 |
4.4.1 热失重分析(TG) | 第50-51页 |
4.4.2 差示扫描量热(DSC)分析 | 第51-53页 |
4.4.3 撞击感度及摩擦感度测试 | 第53页 |
4.5 本章小结 | 第53-55页 |
5 RDX/CuO/NC纳米复合含能材料的制备及性能测试 | 第55-66页 |
5.1 引言 | 第55页 |
5.2 实验 | 第55-57页 |
5.2.1 实验原料 | 第55页 |
5.2.2 仪器与实验条件 | 第55-56页 |
5.2.3 样品制备 | 第56-57页 |
5.3 样品的结构表征 | 第57-61页 |
5.3.1 扫描电镜(SEM)分析 | 第57-58页 |
5.3.2 透射电镜(TEM)分析 | 第58-59页 |
5.3.3 X-射线晶体衍射(XRD)分析 | 第59-60页 |
5.3.4 能谱分析(EDS) | 第60-61页 |
5.4 样品的性能测试 | 第61-65页 |
5.4.1 热失重分析(TG) | 第61-62页 |
5.4.2 差示扫描量热(DSC)分析 | 第62-64页 |
5.4.3 撞击感度及摩擦感度测试 | 第64-65页 |
5.5 本章小结 | 第65-66页 |
6 结束语 | 第66-68页 |
6.1 总结 | 第66页 |
6.2 展望 | 第66-68页 |
致谢 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-74页 |
附录 | 第74页 |