基于旁路分析的硬件木马检测技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 研究背景 | 第12-14页 |
| 1.2 研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 论文主要工作 | 第15-17页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第17-18页 |
| 第二章 硬件木马及其检测方法 | 第18-30页 |
| 2.1 硬件木马简介 | 第18-19页 |
| 2.2 硬件木马特征及分类 | 第19-22页 |
| 2.3 硬件木马检测方法 | 第22-29页 |
| 2.3.1 物理检测技术 | 第23-24页 |
| 2.3.2 逻辑功能测试技术 | 第24页 |
| 2.3.3 可测性设计技术 | 第24-25页 |
| 2.3.4 旁路分析技术 | 第25-29页 |
| 2.3.4.1 基于功耗分析技术的检测方法 | 第26-27页 |
| 2.3.4.2 基于时序信号分析技术的检测方法 | 第27-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 基准测试电路选择及后端设计 | 第30-51页 |
| 3.1 AES密码芯片简介 | 第30-31页 |
| 3.2 AES基准测试电路 | 第31-33页 |
| 3.3 ASIC后端设计概述 | 第33-34页 |
| 3.4 AES后端设计及结果分析 | 第34-50页 |
| 3.4.1 逻辑综合 | 第35-38页 |
| 3.4.1.1 设计过程 | 第35-37页 |
| 3.4.1.2 结果分析 | 第37-38页 |
| 3.4.2 物理设计 | 第38-46页 |
| 3.4.2.1 设计过程 | 第38-44页 |
| 3.4.2.2 结果分析 | 第44-46页 |
| 3.4.3 形式验证 | 第46-50页 |
| 3.4.3.1 同一设计对比 | 第46-49页 |
| 3.4.3.2 原始设计和插入木马后的设计对比 | 第49-50页 |
| 3.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 基于功耗分析的检测技术 | 第51-63页 |
| 4.1 基于旁路分析的硬件木马检测技术 | 第51-52页 |
| 4.2 功耗分析技术 | 第52页 |
| 4.3 理论分析 | 第52-54页 |
| 4.3.1 电路功耗模型 | 第52-53页 |
| 4.3.2 EDA工具的功耗分析模型 | 第53-54页 |
| 4.4 功耗分析检测流程 | 第54-58页 |
| 4.5 功耗分析检测及结果分析 | 第58-62页 |
| 4.6 本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 基于多参数分析的检测技术 | 第63-77页 |
| 5.1 多参数分析技术 | 第63-64页 |
| 5.2 理论分析 | 第64-67页 |
| 5.2.1 动态电流简介 | 第64-65页 |
| 5.2.2 动态电流和最大工作频率关系分析 | 第65-67页 |
| 5.3 多参数检测流程 | 第67-68页 |
| 5.4 多参数检测及结果分析 | 第68-73页 |
| 5.5 检测技术验证 | 第73-76页 |
| 5.6 本章小结 | 第76-77页 |
| 第六章 总结与展望 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-84页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第84-85页 |
