| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-17页 |
| 1.1 课题来源 | 第8页 |
| 1.2 课题研究背景与意义 | 第8-9页 |
| 1.3 低应力夹持及其相关技术国内外研究现状 | 第9-15页 |
| 1.3.1 光学元件低应力夹持技术国内外研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3.2 机械加工表面重构技术国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3.3 机械加工表面残余应力国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.4 论文的主要内容 | 第15-17页 |
| 第2章 基于弹性薄板理论和光学原理的数学建模 | 第17-25页 |
| 2.1 引言 | 第17页 |
| 2.2 基于弹性薄板理论的晶体在重力作用下变形的计算 | 第17-22页 |
| 2.2.1 晶轴旋转后的晶体刚度矩阵推导 | 第17-19页 |
| 2.2.2 基于弹性薄板理论的变形微分方程推导 | 第19-21页 |
| 2.2.3 弹性薄板变形微分方程的数值求解 | 第21-22页 |
| 2.3 谐波转换效率损失与晶体力学参数关系的数学模型 | 第22-24页 |
| 2.3.1 面形变化与谐波损失之间的数学关系 | 第22-23页 |
| 2.3.2 应力分布与谐波损失之间的数学关系 | 第23-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 考虑晶体框平面度的谐波损失影响分析 | 第25-39页 |
| 3.1 引言 | 第25页 |
| 3.2 基于检测试验的晶体框表面三维轮廓分形重构 | 第25-31页 |
| 3.2.1 晶体框支撑表面平面度和粗糙度检测试验 | 第25-29页 |
| 3.2.2 晶体框表面三维轮廓的分形重构算法 | 第29-30页 |
| 3.2.3 重构轮廓与检测轮廓的相似性分析 | 第30-31页 |
| 3.3 晶体和框体接触分析有限元模型的建立 | 第31-33页 |
| 3.4 支撑面平面度对于谐波损失的影响 | 第33-35页 |
| 3.5 夹持力对于晶体谐波损失的影响 | 第35-38页 |
| 3.5.1 连续夹持力对晶体谐波损失的影响 | 第36-37页 |
| 3.5.2 非连续夹持力对于谐波损失的影响 | 第37-38页 |
| 3.6 本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 组件固定方式与晶体支撑方式力学特性分析 | 第39-48页 |
| 4.1 引言 | 第39页 |
| 4.2 不同低应力夹持组件结构形式的对比分析 | 第39-41页 |
| 4.2.1 国内外低应力夹持方案的对比分析 | 第39-40页 |
| 4.2.2 全外围夹持方案中的两种晶体夹持方式 | 第40-41页 |
| 4.3 不同晶体支撑方式和组件固定方式的静力学有限元计算 | 第41-44页 |
| 4.3.1 不同晶体支撑方式和组件固定方式的有限元模型 | 第41-43页 |
| 4.3.2 间接支撑四角固定式结构的有限元计算 | 第43-44页 |
| 4.4 对间接支撑结构中支撑区平面度的计算分析 | 第44-47页 |
| 4.4.1 间接支撑结构中支撑区平面度的形成分析 | 第44-45页 |
| 4.4.2 结构参数对于支撑区域整体平面度影响的计算 | 第45-47页 |
| 4.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 晶体框残余应力松弛对谐波损失影响分析 | 第48-65页 |
| 5.1 引言 | 第48页 |
| 5.2 基于平面磨削介观仿真的残余应力计算 | 第48-55页 |
| 5.2.1 载荷的计算和有限元模型的建立 | 第48-53页 |
| 5.2.2 仿真结果与残余应力分析 | 第53-55页 |
| 5.3 晶体框支撑表面的残余应力检测试验 | 第55-60页 |
| 5.3.1 小孔法测残余应力的原理和算法 | 第55-56页 |
| 5.3.2 小孔法试验中校准系数的标定 | 第56-58页 |
| 5.3.3 试验准备与检测结果 | 第58-60页 |
| 5.4 残余应力松弛引起的框体形变及谐波损失分析 | 第60-64页 |
| 5.4.1 残余应力松弛引起的形变及三维等效模型 | 第60-62页 |
| 5.4.2 残余应力引起的谐波损失有限元分析 | 第62-64页 |
| 5.5 本章小节 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
