摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第9-15页 |
1.1 真空断路器状态参数检测的背景和意义 | 第9-11页 |
1.1.1 真空断路器状态参数检测的概况 | 第9-10页 |
1.1.2 真空断路器状态参数检测的意义 | 第10页 |
1.1.3 真空断路器分合闸速度检测的现状 | 第10-11页 |
1.2 参数化设计概述 | 第11-13页 |
1.2.1 参数化设计的必要性 | 第12页 |
1.2.2 参数化设计的方法 | 第12-13页 |
1.3 本文的主要研究内容 | 第13-15页 |
第二章 系统开发平台及传感器设计的理论基础 | 第15-27页 |
2.1 AutoCAD的二次开发环境和技术 | 第15-17页 |
2.1.1 AutoCAD的二次开发技术比较 | 第15-16页 |
2.1.2 ObjectARX类库 | 第16-17页 |
2.2 Ansoft/Maxwell软件介绍 | 第17-18页 |
2.3 电磁感应的理论分析 | 第18-21页 |
2.3.1 电磁感应定律 | 第18-19页 |
2.3.2 感应电动势模型 | 第19-20页 |
2.3.3 分合闸速度传感器的感应电压分析 | 第20-21页 |
2.4 传感器的性能指标 | 第21-23页 |
2.5 有限元分析理论 | 第23-25页 |
2.6 本章小结 | 第25-27页 |
第三章 分合闸速度传感器的设计及性能分析 | 第27-45页 |
3.1 分合闸速度传感器设计的基本思想 | 第27-28页 |
3.2 分合闸速度传感器基本结构的选择 | 第28-29页 |
3.3 传感器关键部件的设计 | 第29-33页 |
3.3.1 永磁体的选定 | 第29-31页 |
3.3.2 感应线圈的选择 | 第31-33页 |
3.4 10kV真空断路器分合闸速度传感器结构的优化 | 第33-37页 |
3.4.1 永磁体的磁场分析 | 第33-35页 |
3.4.2 单线圈结构的仿真分析 | 第35-36页 |
3.4.3 双线圈结构的仿真分析 | 第36-37页 |
3.5 高电压等级传感器结构的分析 | 第37-44页 |
3.5.1 多线圈结构的仿真分析对比 | 第37-40页 |
3.5.2 双线圈结构传感器性能分析 | 第40-44页 |
3.6 本章小结 | 第44-45页 |
第四章 分合闸速度传感器的仿真分析 | 第45-61页 |
4.1 仿真分析的基本流程 | 第45-47页 |
4.2 10kV分合闸速度传感器结构参数对输出电压的影响 | 第47-56页 |
4.2.1 永磁体高度对输出电压的影响 | 第47-51页 |
4.2.2 感应线圈高度对输出电压的影响 | 第51-52页 |
4.2.3 感应线圈外径对输出电压的影响 | 第52-54页 |
4.2.4 感应线圈间间距对输出电压的影响 | 第54-55页 |
4.2.5 速度传感器的性能分析 | 第55-56页 |
4.3 高电压等级传感器各结构参数的分析 | 第56-59页 |
4.3.1 35kV真空断路器速度传感器结构参数的分析 | 第56-57页 |
4.3.2 72.5kV真空断路器速度传感器结构参数的分析 | 第57-59页 |
4.4 本章小结 | 第59-61页 |
第五章 分合闸速度传感器的参数化设计 | 第61-73页 |
5.1 分合闸速度传感器的参数化设计思路 | 第61-62页 |
5.2 ObjectARX环境设置与程序框架 | 第62-65页 |
5.2.1 ObjectARX环境设置 | 第62-63页 |
5.2.2 ObjectARX应用程序框架 | 第63-65页 |
5.3 分合闸速度传感器的参数化设计与分析 | 第65-71页 |
5.3.1 传感器的参数化绘图模块 | 第65-69页 |
5.3.2 数据库模块 | 第69-70页 |
5.3.3 线圈参数计算模块 | 第70-71页 |
5.4 本章小结 | 第71-73页 |
第六章 结论 | 第73-75页 |
参考文献 | 第75-78页 |
致谢 | 第78页 |