光缆厂的光缆自动检测系统的优化与升级
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题背景及意义 | 第9-10页 |
| ·光缆检测原理及技术 | 第10-12页 |
| ·本课题研究方向 | 第12页 |
| ·本论文的组成结构 | 第12-14页 |
| 第二章 光缆检测执行设备OTDR | 第14-21页 |
| ·OTDR的工作原理 | 第14-15页 |
| ·OTDR的简介 | 第14页 |
| ·OTDR的工作原理 | 第14-15页 |
| ·OTDR的性能参数 | 第15-17页 |
| ·影响OTDR性能参数的因素 | 第17-18页 |
| ·OTDR设备驱动 | 第18-19页 |
| ·PC机与OTDR的通讯控制函数 | 第19-21页 |
| ·SICL标准仪器控制库 | 第19页 |
| ·常用的SICL函数命令 | 第19-21页 |
| 第三章 光缆自动检测系统的结构与功能分析 | 第21-32页 |
| ·光缆自动检测系统的结构 | 第21-23页 |
| ·自动检测系统的经典结构 | 第21-22页 |
| ·光缆自动检测系统的结构组成 | 第22-23页 |
| ·光缆自动检测系统中的专用名称 | 第23-25页 |
| ·自动检测软件的功能需求 | 第25-32页 |
| ·自动化检测权限 | 第25页 |
| ·连接设备的设置 | 第25页 |
| ·确定测试工步 | 第25页 |
| ·OTDR设备的初始化 | 第25-26页 |
| ·物料类与物料的选择 | 第26页 |
| ·测试工序的设置 | 第26页 |
| ·确定测试方式与方法 | 第26页 |
| ·相关参考信息的设置 | 第26-27页 |
| ·物料结构与色谱信息设置 | 第27-28页 |
| ·测试类型的控制 | 第28-29页 |
| ·质量指标的检索与判断 | 第29-30页 |
| ·OTDR的测试项目 | 第30-31页 |
| ·测试数据的存储 | 第31-32页 |
| 第四章 光缆检测系统优化流程的分析与设计 | 第32-50页 |
| ·光缆自动检测系统的特点 | 第32-33页 |
| ·优化控制流程设计的整体思路 | 第33-34页 |
| ·系统优化控制流程的分析与设计 | 第34-50页 |
| ·程序启动与设备初始化流程 | 第34-36页 |
| ·获取物料参考信息和待测工步的流程 | 第36-38页 |
| ·获取物料结构信息的流程 | 第38-40页 |
| ·测试类型的选择流程 | 第40-41页 |
| ·物料所有组测试的流程 | 第41-44页 |
| ·组内子件测试的流程 | 第44-46页 |
| ·单端测试的流程 | 第46-48页 |
| ·质量指标检索的流程 | 第48-50页 |
| 第五章 光缆检测系统优化设计的实现 | 第50-78页 |
| ·优化问题的归类与分析 | 第50-51页 |
| ·优化设计的实现 | 第51-78页 |
| ·相关参数项显示效果的优化 | 第51-54页 |
| ·外端单端测试系列问题的优化 | 第54-59页 |
| ·长度测试相关问题的优化 | 第59-62页 |
| ·色谱结构显示问题的优化 | 第62-64页 |
| ·指标检索方式与指标说明的优化 | 第64-70页 |
| ·标签打印数量的优化设计 | 第70-72页 |
| ·问题光纤测试曲线存储的优化 | 第72-74页 |
| ·其他细节问题的优化 | 第74-78页 |
| 第六章 总结与展望 | 第78-80页 |
| ·本研究课题的工作总结 | 第78页 |
| ·对今后研究工作的展望 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82-83页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第83页 |
