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三种并三噻吩衍生物的场效应性能研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第一章 前言第12-44页
    1.1 有机场效应晶体管简介第12-19页
        1.1.1 引言第12页
        1.1.2 有机场效应晶体管的研究进展第12-14页
        1.1.3 有机场效应晶体管的结构及工作原理第14-16页
        1.1.4 有机场效应晶体管的性能参数第16-19页
    1.2 有机半导体材料的发展第19-34页
        1.2.1 有机半导体材料分类第19-22页
        1.2.2 噻吩类有机半导体材料结构的发展第22-34页
    1.3 课题内容及研究思路第34-36页
    参考文献第36-44页
第二章 简单芳基取代ss-DTT系列衍生物的场效应性能研究第44-54页
    2.1 有机薄膜制备及表征第44-50页
        2.1.1 薄膜的原子力形貌分析第46-48页
        2.1.2 薄膜的X射线衍射分析第48-49页
        2.1.3 薄膜的紫外可见吸收光谱分析第49-50页
    2.2 有机场效应晶体管性能第50-53页
    2.3 本章小结第53-54页
第三章 三种长共轭结构的bb-DTT衍生物的场效应性能研究第54-72页
    3.1 有机薄膜制备及表征第54-62页
        3.1.1 薄膜的原子力形貌分析第54-55页
        3.1.2 薄膜的X射线衍射分析第55-57页
        3.1.3 薄膜的紫外可见吸收光谱分析第57-59页
        3.1.4 能级分析第59-62页
    3.2 有机场效应晶体管性能第62-70页
        3.2.1 化合物W-5的OFETs性能第62-64页
        3.2.2 化合物W-6的OFETs性能第64-67页
        3.2.3 化合物W-7的OFETs性能第67-70页
    3.3 本章小结第70-72页
第四章 bt-DTT系列衍生物的场效应性能研究第72-106页
    4.1 有机薄膜制备及表征第72-85页
        4.1.1 薄膜的原子力形貌分析第73-76页
        4.1.2 薄膜的X射线衍射分析第76-79页
        4.1.3 薄膜的紫外可见吸收光谱分析第79-82页
        4.1.4 能级分析第82-85页
    4.2 有机场效应晶体管性能第85-105页
        4.2.1 化合物TM-1的OFETs性能第85-87页
        4.2.2 化合物TM-2的OFETs性能第87-88页
        4.2.3 化合物TM-3的OFETs性能第88-89页
        4.2.4 化合物TM-4的OFETs性能第89-91页
        4.2.5 化合物TM-5的OFETs性能第91-92页
        4.2.6 化合物TM-6的OFETs性能第92-94页
        4.2.7 化合物TM-7的OFETs性能第94-96页
        4.2.8 化合物TM-8的OFETs性能第96-97页
        4.2.9 化合物TM-10的OFETs性能第97-98页
        4.2.10 化合物TM-11的OFETs性能第98-100页
        4.2.11 化合物TM-12的OFETs性能第100-102页
        4.2.12 结构与性能关系分析总结第102-105页
    4.3 本章小结第105-106页
第五章 结束语第106-108页
    5.1 主要结论第106-107页
    5.2 存在不足第107-108页
致谢第108-109页

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