| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 课题的来源及研究的目的和意义 | 第10-12页 |
| 1.1.1 课题来源 | 第10页 |
| 1.1.2 课题研究的目的和意义 | 第10-12页 |
| 1.2 电子系统电磁脉冲效应的国内外研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 固态继电器电磁干扰问题国内外研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第16页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第16-17页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第17-19页 |
| 第2章 电磁脉冲辐射干扰对固态继电器影响 | 第19-31页 |
| 2.1 引言 | 第19页 |
| 2.2 电磁脉冲干扰耦合途径 | 第19-21页 |
| 2.3 固态继电器壳体屏蔽效能 | 第21-24页 |
| 2.3.1 屏蔽效能理论 | 第21-23页 |
| 2.3.2 屏蔽效能的计算 | 第23-24页 |
| 2.4 固态继电器电磁脉冲辐射干扰仿真分析 | 第24-29页 |
| 2.4.1 电磁脉冲模拟器仿真模型 | 第24-26页 |
| 2.4.2 固态继电器在电磁脉冲环境下联合仿真模型 | 第26-27页 |
| 2.4.3 仿真结果及分析 | 第27-29页 |
| 2.5 本章小结 | 第29-31页 |
| 第3章 电磁脉冲传导干扰对固态继电器影响 | 第31-42页 |
| 3.1 引言 | 第31页 |
| 3.2 电磁脉冲方波注入法等效原理 | 第31-34页 |
| 3.2.1 电磁脉冲对电小尺寸柱状导体与环状导体的耦合 | 第31-33页 |
| 3.2.2 电磁脉冲辐照效应的方波注入法研究 | 第33-34页 |
| 3.3 固体继电器高频模型的建立 | 第34-37页 |
| 3.3.1 印制线路板寄生参数提取 | 第34-36页 |
| 3.3.2 固态继电器高频等效模型的建立 | 第36-37页 |
| 3.4 固态继电器受电磁脉冲影响仿真 | 第37-41页 |
| 3.4.1 输入端受干扰仿真分析 | 第37-39页 |
| 3.4.2 输出端注入干扰信号试验分析 | 第39-41页 |
| 3.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 固态继电器电磁脉冲效应失效机理分析及优化设计 | 第42-53页 |
| 4.1 引言 | 第42页 |
| 4.2 失效机理分析 | 第42-43页 |
| 4.2.1 输出端注入脉冲损伤原理分析 | 第42-43页 |
| 4.2.2 输入端注入脉冲损伤原理分析 | 第43页 |
| 4.3 抗电磁脉冲主要措施 | 第43-47页 |
| 4.3.1 屏蔽 | 第44页 |
| 4.3.2 频域控制 | 第44-45页 |
| 4.3.3 能域防护 | 第45-47页 |
| 4.3.4 接地 | 第47页 |
| 4.3.5 其他 | 第47页 |
| 4.4 固态继电器抗电磁脉冲优化方案 | 第47-52页 |
| 4.4.1 压敏电阻 | 第48页 |
| 4.4.2 瞬态抑制二极管 | 第48-49页 |
| 4.4.3 多级瞬态器件组合 | 第49-52页 |
| 4.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 第5章 优化设计试验验证 | 第53-63页 |
| 5.1 引言 | 第53页 |
| 5.2 试验设备及方法 | 第53-56页 |
| 5.2.1 电磁脉冲模拟器 | 第53-54页 |
| 5.2.2 试验设备 | 第54-55页 |
| 5.2.3 试验方法 | 第55-56页 |
| 5.3 固态继电器受电磁脉冲干扰试验 | 第56-58页 |
| 5.3.1 试验方案 | 第56页 |
| 5.3.2 试验结果及分析 | 第56-58页 |
| 5.4 固态继电器抗电磁脉冲优化试验 | 第58-61页 |
| 5.4.1 试验方案 | 第58-59页 |
| 5.4.2 试验结果及分析 | 第59-61页 |
| 5.5 试验结果分析 | 第61-62页 |
| 5.6 本章小结 | 第62-63页 |
| 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
